DEFECT INSPECTION 日本語意味 - 日本語訳

Board defect inspection.

基板欠陥検査。

Wafer Crystallographic Defect Inspection.

ウェハー結晶欠陥検査。

Defect Inspection System.

欠陥検査装置。

Package laminate defect inspection.

包装ラミネート不良検査。

Defect inspection apparatus.

マクロ欠陥検査装置。

Composite delamination and defect inspections.

鋳造および鍛造欠陥検査。

In-line defect inspection devices.

インライン欠点検査装置。

Guaranteed highest quality- woven defect inspection label.

保証された良質-編まれた欠陥の点検ラベル。

Various defect inspections supported.

様々な欠陥検査に対応。

Seamless,"hands-free" integration with Applied's industry-standard SEMVision® G5 defect reviewsystem creates the industry's leading fully-integrated defect inspection and review solution, offering chipmakers the fastest, most accurate path from data to information.

UVision5は、業界標準となっているアプライドマテリアルズの欠陥レビュー装置SEMVision®G5とハンズフリーでシームレス統合ができ、業界をリードする完全一体型の欠陥検査・レビューソリューションを形成して、データの迅速かつ正確な情報化を実現します。

Setting of defect inspection parameters(performed before shipment).

欠陥検出パラメータの設定（当社が出荷前に実施）。

Linkage with optical defect inspection tools.

光学式欠陥検査装置とのリンク機能。

Also, defect inspection of structural object and device pattern formed on wafer can be performed.

また、ウェハに形成された構造物やデバイスパターンの欠陥検査も可能です。

Semiconductor crystal micro defect inspection apparatus.

半導体結晶微小欠陥検査装置。

Semiconductor wafer defect inspection system detects physical defects(foreign substances called particles) and pattern defects on wafers and obtains the position coordinates(X, Y) of the defects..

半導体ウェーハ欠陥検査装置は、ウェーハ上のパーティクルと呼ばれる異物やパターン欠陥を検出し、欠陥の位置座標（X、Y）を取得します。

Dimensional measurement and defect inspection will be omitted.

寸法測定、欠陥検査は省略となります。

In addition to yield analysis and defect inspection, the Yokkaichi Operations also use AI support in many areas requiring high level expertise, such as product quality prediction, automatic determination of equipment maintenance timing, and the like.

歩留解析」や「欠陥検査」以外にも、四日市工場では、製品品質の予測や、装置メンテナンス時期の自動決定など、高度な知見が必要だった領域に、AIによるサポートをふんだんに取り入れています。

Unprecedented production innovationproducing high accuracy yield analysis and defect inspection The world-pioneering semiconductor manufacturing processes being supported by AI.

高精度な「歩留解析」「欠陥検査」が実現した、かつてない生産革新AIが支える世界最先端の半導体製造プロセス。

Key Features Defect inspection using high contrast images from confocal optics Automatic defect classification including pit/bump analysis by proprietary algorithm High-resolution 3D measurement that facilitates defect type identification and estimation Applications Quantitative management of wafer edges for in-line QC and early warning of process errors Follow-on analysis of chip defects at wafer edges using SPC Root cause analysis of yield loss at wafer edges Product detail.

特長コンフォーカル光学系による高コントラスト画像を用いた欠陥検査独自のアルゴリズムによる凹凸判定を含めた自動欠陥分類欠陥種の特定・推測が容易となる、高解像度3D測定機能用途インラインQCによるウェハ外周部の定量管理及び異常プロセス発生時の早期アラームSPCによるウェハ外周部の不良チップ発生時の後追い解析ウェハ外周部の欠陥による、歩留まり悪化原因の把握・解析製品詳細。

Appearance, dimension and defect inspection by image processing.

画像処理による外観・寸法・欠陥・検査。

Current inline automated optical defect inspection tools for displays are not as effective as SEM analysis in distinguishing killer from non-killer defects, or in determining systematic root causes of defects..

現在ディスプレイ製造に用いられているインライン自動光学欠陥検査装置は、キラー欠陥の判別や、欠陥の根本原因を特定する能力がSEM分析に比べて劣っています。

The Inspection System with SpectralCam™ provides 100% defect inspection and true spectral color measurement using a 31-channel spectral sensor.

SpectralCam™付き検査システムは、31チャンネルスペクトルセンサーを用いて、100%欠陥検査と真のスペクトルカラー測定を提供します。

This optical system has been applied to the defect inspection system for photomask substrate and to the defect inspection system for SiC wafers, these two objects for inspection being both transparent as well, and excellent inspection capability of these two systems is highly acclaimed in the market.

同光学系は、同じく透明体である、フォトマスク用サブストレートの欠陥検査装置や、SiCウェハの欠陥検査装置に適用され、その優れた欠陥検出能力は市場から高い評価を得ています。

The QuadTech Inspection System with SpectralCamis the only system that provides 100% defect inspection and true spectral color measurement, providing defect-free printing and accurate, high-quality color packaging.

QuadTech検査システム(SpectralCam付き)は、100%欠陥検査と真のスペクトルカラー測定の両方を実現する唯一のシステムです。欠陥のない印刷と、正確かつ高品質のカラーパッケージングが得られます。

Lasertec has commercialized a new maskblanks defect inspection system"M3320" for high sensitivity in-line defect inspection compatible with semiconductor devices of 90nm, and has started to accept order for this new product on March 17th.

レーザーテックは、設計ルール90nmの半導体デバイスに対応した高感度インライン用欠陥検査装置の新製品"マスクブランクス欠陥検査装置「M3320」"を製品化し、3月17日から受注を開始しました。

Because wide-band-gap semiconductors, sapphire, quartz and so on are transparent materials,it has been difficult to realize high sensitivity defect inspection of these transparent materials by the conventional technologies due to stray light generated at wafer rear surface and the structure of inspection equipment itself.

ワイドバンドギャップ半導体や、サファイア、石英などは透明体であるため、ウェハの裏面や装置構造物からの迷光の影響で、従来技術での高感度欠陥検査が難しいという課題がありました。

The system has an annotation tool which can perform defect inspection, registration and reporting on the images to allow the user to grasp aging or deterioration of the target by organizing the images which have been taken at the same communication infrastructure in time series.

写真上に不具合点検・登録・報告業務ができるアノテーションツールを具備しており、同じ通信インフラの過去に撮影した写真を時系列で管理することで、経年劣化状況の把握ができます。

Photomask Defect Inspection System.

ブランクス・フォトマスク欠陥検査装置。

Inspection System with SpectralCam™ provides 100% defect inspection and true spectral color measurement using the same proven 31-channel spectral sensor found on QuadTech's commercial color control.

SpectralCam™付き検査システムは、QuadTechの商用カラーコントロールで用いられている、実績ある31チャンネルスペクトルセンサーを用いて、100%欠陥検査と真のスペクトルカラー測定を提供します。

Gauging thickness weight and moisture measuring, defects inspection, process automation and control systems for the plastic films and rubber industries.

プラスチックフィルムとゴム産業のための厚さ、重量および水分測定、欠陥検査、プロセスの自動化と制御システムを測ります。