O Que é RIETVELD METHOD em Português

• método de rietveld

Exemplos de uso de Rietveld method em Inglês e suas traduções para o Português

The xrd patterns were refined using the rietveld method for pure l and b phase.
O padrão de raio-x foram refinados usando o método de rietveld para as fases puras l e b.

The formation of mullite from this mixture(3al2o3.2sio2) was characterized using quantification of phases by the rietveld method.
A formação da mulita a partir desta mistura(3al2o3.2sio2) foi caracterizada utilizando quantificação de fases pelo método de rietveld.

X-ray diffraction with Rietveld method applied to bauxites of Porto Trombetas.
A difração de raios X com o método de Rietveld aplicada a bauxitas de Porto Trombetas,….

The compounds prepared were structurally characterized by x-ray diffractometry, refining the diffractograms by the rietveld method.
Os compostos preparados foram caracterizados estruturalmente por difratometria de raios x, refinando os difratogramas pelo método de rietveld.

The xrd patterns were refined by the rietveld method, whereby the lattice parameters and the unit cell volume were obtained.
Os difratogramas foram refinados pelo método rietveld, através do qual foram obtid.

Spectroscopic and microscopic techniques, thermal analysis and x-ray diffraction with the rietveld method were employed.
Para isso foram utilizadas técnicas espectroscópicas, microscópicas, de análises térmicas e difração de raios x com método de rietveld.

The x-ray diffraction patterns obtained were analyzed by rietveld method, which enabled the identification of the crystalline struc.
Os difratogramas de raios x foram analisados pelo método de rietveld, que p.

Basically, the Rietveld method is using analytical profile functions and least-squares algorithms to fit a theoretical to a measured pattern.
Basicamente, o método de Rietveld utiliza funções de análise do perfil e algoritmos de mínimos quadrados para ajustar um padrão teórico a um padrão medido.

Their properties were studied using x-ray diffraction, rietveld method and raman spectroscopy.
Suas propriedades estruturais e ópticas foram estudadas através das técnicas de difração de raios x(drx), método rietveld e espectroscopia raman rs.

The sintered samples were analyzed by x-ray diffraction, with the adjustment of the diffraction peaks and the formed phases quantified by rietveld method.
Os sinterizados foram analisados por difração de raios x, tendo o ajuste dos picos de difração e as fases formadas quantificadas pelo método de rietveld.

Xrd measurement and quantification phases via rietveld method indicated no austenite these conditions.
Medidas de drx e quantificação de fases via método de rietveld indicaram ausência de austenita nessas condições.

After 4 h of milling, the measured x-ray diffraction pattern shows the nucleation of a nanostructured tetragonal cu2sb phase, the structural parameters were refined by rietveld method using gsas package.
Após 4 horas de moagem, foi verificada por drx a nucleação de uma fase nanoestruturada cu2sb de estrutura tetragonal. os parâmetros estruturais foram refinados pelo método rietveld usando o pacote gsas.

X-ray diffraction(xrd) measurements by rietveld method confirm the desired crystallographic phase for all studied samples.
Medidas de difração de raios-x e a análise pelo refinamento rietveld confirmaram que todas as amostras sintetizadas apresentaram a fase cristalográfica desejada.

The ssr obtained pigments were not submitted to mössbauer spectroscopy and the rietveld method structural refinement analyses.
Nos pigmentos obtidos por res não foram realizadas análises de espectroscopia mössbauer e de refinamento estrutural pelo método de rietveld.

X-ray diffractometry(xrd), which data were analyzed by the rietveld method, revealed the presence of the w, z, and y-phases in mean molar ratios of 66%, 22%, and 10%, respectively.
A difratometria por raios-x(drx), cujos dados foram analisados pelo método de rietveld, revelou a presença das fases w, z e y, nas proporções molares em média de 66%, 22% e 10%, respectivamente.

The ores were characterized by scanning electron microscopy, x-ray diffraction, phase quantification by rietveld method and particle size distribution.
Os minérios foram caracterizados por microscopia eletrônica de varredura, difração de raios-x, quantificação de fases pelo método rietveld e distribuição granulométrica.

The rietveld method is used in the refinement of the materials crystalline structures in the powder form and in the phases quantification based on the x-ray or neutrons information.
O método de rietveld é usado no refinamento das estruturas cristalinas dos materiais na forma de pó e na quantificação de fases, a partir das informações de difração de raios x ou de nêutrons.

The structural parameters of the investigated systems were determined by the refinement using the rietveld method, considering the space group pm m. from the determination of the crystallographic parameter was build the of uni.
Os parâmetros estruturais dos sistemas investigados foram determinados pelo refinamento utilizando o método de rietveld, considerando o grupo espacial pm m. a partir.

The rietveld method has been used in soil studies, however, there are some disputes about the reliability of results in soils through mineralogical quantification using x-ray diffraction in general.
O método de rietveld é utilizado em estudos de solos, no entanto, há discussões sobre a confiabilidade dos resultados com métodos de quantificação mineralógica por meio da difração de raios x em geral.

The powders were characterized by determination of specific surface area by the method(bet), x-ray diffraction(xrd), refinement of xrd data by the rietveld method and vibrating sample magnetometry mav.
Os pós obtidos foram caracterizados por determinação de área superficial específica pelo método(bet), difração de raio x(drx), refinamento dos dados de drx pelo método rietveld e magnetometria de amostra vibrante mav.

These days, the Rietveld method is not only used for structure analysis, but also for the quantification of multi-phase mixtures and the determination of the crystallite microstructure which covers size and strain.
Atualmente, o método de Rietveld é usado não só para a análise de estruturas, mas também para a quantificação de misturas multifásicas e a determinação da microestrutura de cristalitos, incluindo o tamanho e a deformação.

The modified titanium(tm) oxides and unmodified(tn) were characterized by the techniques of x-ray diffraction(xrd)and refinement by the rietveld method, transmission electron microscopy(tem) and determination of specific surface area.
Os óxidos de titânio modificados(tm) e não modificados(tn) foram caracterizados pelas técnicas de difração de raios x(drx) e refinamento pelo método de rietveld, microscopia eletrônica de transmissão(met) e determinação da área superficial específica.

The techniques of x-ray diffraction(xrd), with refinement by the rietveld method, x-ray fluorescence(xrf), nitrogen absorption in 77k(bet), uv-vis diffuse reflectance spectroscopy(drs) and scanning electron microscopy(sem) were used f.
As técnicas de fluorescência de raios-x(frx), adsorção de nitrogênio a 77k(bet), difração de raios-x(drx) com refinamento pelo método de rietveld, microscopia eletrônica de varredura(mev) e espec.

Differential thermal analysis, thermogravimetry, scanning eletron microscopy, spectrometry of dispersion in wavelength and X rays diffraction, associate to the Rietveld method, had been used for characterization of the samples of flour and clinker.
Análise térmica diferencial, termogravimetria, microscopia eletrônica de varredura, espectrometria de dispersão em comprimento de onda e difração de raios X associada ao método de refinamento de Rietveld foram utilizadas para caracterização das amostras de farinha e de clínquer obtidas.

The basics of the Rietveld method were published in the late 1960Ấs, when the Dutch crystallographer Hugo Rietveld presented computer based analytical procedures making use of a complete powder diffraction pattern recorded with neutrons.
Os fundamentos do método de Rietveld foram publicados no final da década de 1960, quando o cristalógrafo holandês Hugo Rietveld apresentou procedimentos analíticos computacionais utilizando um completo padrão de difração de pó registrado com nêutrons.

The merged and treated samples were analyzed by optical metallography, scanning with eds compositional analysis via electron microscopy, x-ray diffraction(rietveld method), differential scanning calorimetry and magnetization as a function of temperature and applied field.
As amostras fundidas e tratadas foram analisadas por metalografia óptica, microscopia eletrônica de varredura com análise composicional via eds, difração de raios x(método rietveld), calorimetria diferencial de varredura e medidas de magnetização em função de temperatura e campo aplicado.

The obtained materials were characterized by x-ray diffraction, scanning and transmission electron microscopy, x-ray dispersive energy spectroscopy, electrons diffracton, inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy, cyclic voltammetry, thermogravimetry, structural refinement by rietveld method and chronopotentiometry.
Os materiais obtidos foram caracterizados por difratometria de raios x, microscopia eletrônica de varredura e transmissão, energia dispersiva de raios x, difração de elétrons, espectroscopia de emissão atômica em plasma indutivamente acoplado, voltametria cíclica, termogravimetria, refinamento estrutural pelo método de rietveld e cronopotenciometria.

To adequate analysis of these solids ingredients, some methods using drxp data are recommended: rietveld method(rm), le bail method(mlb), pawley method(pm) and the ponkcs method(partial or no known crystal structure) which is based on rm.
Para a análise adequada destes insumos sólidos, alguns métodos fazendo uso dos dados de drxp são recomendados: o método de rietveld(mr), método de le bail(mlb), método de pawley(mp) e o método de ponkcs(partial or no known crystal structure) que é baseado no mr.

The characterization of the material obtained was performed by simultaneous thermal analysis techniques(tg, dtg, dta), x-ray diffraction(xrd), structural refinement by the rietveld method(remr), scanning electron microscopy(eds) and semi-quantitative analysis by x-ray energy mev.
A caraterização do material obtido foi realizada mediante as técnicas de análises térmicas simultâneas(tg, dtg, dta), difração de raios-x(drx), refinamento estrutural pelo método de rietveld(remr), microscopia eletrônica de varredura(eds) e análise semi-quantitativa por energia de raios-x mev.

The structural characterization and morphological was done by using x-ray diffraction techniques, rietveld method, micro-raman spectroscopy, infrared region¿s spectroscopy techniques, field emission¿s electronic microscopy(feg) and atomic force microscopy afm.
As caracterizações estruturais e morfológicas foram realizadas utilizando as técnicas de difração de raios x, método de rietveld, espectroscopia micro-raman, espectroscopia na região do infravermelho, microscopia eletrônica de emissão de campo(feg) e microscopia de força atômica mfa.