力顕微鏡 英語 意味 - 英語訳 - 日本語の例文

• force microscopy
• force microscope
• force microscopes

日本語 での 力顕微鏡 の使用例とその 英語 への翻訳

磁気力顕微鏡MFM。
Magnetic Force Microscopy MFM.

原子間力顕微鏡(AFM)。
AFM(Atomic Force Microscope).

間力顕微鏡。
Atomic force microscopy.

原子間力顕微鏡（AFM）。
Atomic Force Microscope(AFM).

原子間力顕微鏡。
Atomic force microscopy.

MFP-3Dアローン間力顕微鏡スタンド。
MFP- 3D Stand Alone Atomic Force Microscope.

原子間力顕微鏡。
Atomic Force Microscope.

原子間力顕微鏡用AFMスキャナにおける標本の位置決めは、ピエゾベースのスキャンステージで行わるため、それらステージは重要な役割を担います。
Specimen positioning on AFM scanners for atomic force microscopy is performed with piezo-based scanning stages which thus play a key role.

走査型電子顕微鏡（SEM）や原子間力顕微鏡（AFM）の微動アクチュエータに圧電セラミックスが動力源として使用されます。
The micromotion actuators of the scanning electron microscope(SEM) and atomic force microscope(AFM), are used piezo ceramics as a power source.

ロッド型ε-Fe2O3の原子間力顕微鏡(AFM)像を図2cに示します。
Atomic force microscopy(AFM) image of rod-shaped ε-Fe2O3 is shown in Figure 2c.

マイクロマシン技術を用いた摩擦力顕微鏡用プローブ|名古屋大学研究シーズ集uniteユナイト。
Friction force microscope probes that fabricated by micromachining technology| Nagoya University research seeds for needs unite.

SMIMの能力は世界最高位の原子間力顕微鏡と組み合わせた時に、よりいっそう優れたものになるからです。
The capability of sMIM is even greater when combined with the world's very best atomic force microscopes.”.

電気力顕微鏡(EFM)は、サンプル表面の電気力勾配分布を測定します。
Electric Force Microscopy(EFM) measures electric field gradient distribution above the sample surface.

原子間力顕微鏡(AFM)分野で世界的リーダーのParkSystemsは、中国に北京オフィスを開設することを発表いたします。
Park Systems, world leader in Atomic Force Microscopes(AFM) announces the opening of its Beijing Office in China.

ステップバンチング：ステップバンチングとラフネスは、10μm×10μmの領域でAFM（原子間力顕微鏡）によってスキャンされます。
Step bunching: Step bunching and Roughness are scaned by AFM(atomic force microscope) on a 10μm x10μm area.

これには、ケルビンプローブフォース顕微鏡（KFM）などの電気特性や、磁気特性（磁気力顕微鏡、MFM）も含まれます。
This includes electrical characteristics, such as Kelvin Probe Force Microscopy(KPM/KPFM) or magnetic characteristics(Magnetic Force Microscopy, MFM).

これはSSLECで働く私の仲間の実際の原子間力顕微鏡データです。
This is real AFM-- Atomic Force Microscope-- data from my colleagues in the Solid State Lighting and Energy Center.

このε-Fe2O3フェライト棒磁石の性質を利用して、磁気力顕微鏡用の探針(プローブ)の開発に成功しました。
Taking advantage of the properties of ε-Fe2O3 ferrite bar magnet, a probe for magnetic force microscope was successfully developed.

磁気力顕微鏡(MFM)はタッピングモードTMから派生した二次的なイメージングモードで、サンプル表面の磁気力グラジエントをマッピングするのと同時に、表面形状データを取得することができます。
Magnetic Force Microscopy(MFM) is a secondary imaging mode derived from TappingModeTM that maps the magnetic force gradient above the sample surface while simultaneously obtaining topographical data.

また、3階「技術革新と未来」の「走査型電子顕微鏡」「原子間力顕微鏡」「マイクロマシン工房」は5月10日(月)をもちまして展示を終了させていただきます。
In addition to this, the"scanning electron microscope" and the"atomic force microscope" exhibits and the"Micromachine Studio" on the 3F"Innovation and the Future" will be terminated after May 10 Mon.

電気力顕微鏡(EFM)-NanoelectricalCharacterizationModes|Bruker消費者向けエレクトロニクス製品が小型化し、より洗練されたものになるのに伴い、演算能力と記憶容量も増大しています。
Electric Force Microscopy(EFM)- Nanoelectrical Characterization Modes| Bruker As consumer electronics become sleeker and smaller, they also increase in computing power and data storage capacity.

原子間力顕微鏡の機能を拡張:モジュラーX線源のiMOXSを使うと、単一の装置に走査型電子顕微鏡(SEM)の機能と蛍光X線式分析を実現することができます。
Expand the functions of your atomic force microscope: the modular X-ray source iMOXS enables scanning electron microscope(SEM) and X-ray fluorescence analysis with a single device.

原子間力顕微鏡(AFM)、スタイラスプロファイラー、そして光学計測システムは、絶対的な精度と正確性に関して、インライン製造に対する要件を満足します。
Automated Atomic Force Microscopes(AFMs), stylus profilers, and optical metrology tools meet the requirements for in-line production in terms of absolute precision and accuracy.

このアプリケーションノートでは、光学顕微鏡および原子間力顕微鏡の基礎について簡単に触れ、これら2つの際立ったイメージング手法の融合についての技術的課題を議論します。
This Application Note briefly describes the basics of both optical and atomic force microscopy, followed by a discussion of some of the technical challenges of integrating these two distinct imaging modalities.

本プロジェクトでは高速原子間力顕微鏡やネイティブ質量分析を含む様々な物理化学的測定により、タンパク質の動的機能の全容理解を目指します。
In this project, we will understand dynamic functions of proteins by various physical chemistry measurements including high speed atomic force microscope and native mass spectrometry.4.

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）は、原子レベルの高分解能で表面を測定でき、半導体製造において完全に新しい検査方法を可能にしました。
Atomic force microscopy(AFM) allows surface measurement at highest resolution up to the atomic level, so enabling entirely new inspection methods in the manufacturing of semiconductors.

パーク・ナノサイエンス・ラボでは、高度な原子間力顕微鏡システムを展示し、材料から化学、生物、半導体、デバイスに及ぶさまざまなアプリケーション範囲で実証し、一年を通して経験、トレーニング、サービスを提供します。
The Park Nanoscience Labwill showcase advanced atomic force microscopy systems, demonstrate a wide variety of applications ranging from materials, to chemical and biological to semiconductor and devices, and provide hands on experience, training and service, year-round.

つづいて、表面化学研究室にてAFM(原子間力顕微鏡)、STM(走査トンネル顕微鏡)、XPS(X線光電子分光)を見学しました。
Then we have been to the laboratory of the surface chemistry and looked AFM(atomic force microscope), STM(scanning tunneling microscope) and XPSX-ray photoelectron spectroscopy.

磁気力顕微鏡(MFM)- SpecializedAtomicForceMicroscopeModes|Brukerナノスケールでの磁気力の研究は、以前から磁気記録材料、超電導体、磁気ナノ粒子などの分野の研究者の関心を集めています。
Magnetic Force Microscopy(MFM)- Specialized Atomic Force Microscope Modes| Bruker The study of magnetic forces at the nanometer scale has long been of interest to investigators of magnetic recording materials, superconductors, and magnetic nanoparticles.

EMF-Portal|電子、光学および原子間力顕微鏡により実証されたヒトのグリア細胞芽腫細胞の大きさ、形状、方位性および膜表面に影響する静磁界。
EMF-Portal| Static magnetic fields affect cell size, shape, orientation, and membrane surface of human glioblastoma cells, as demonstrated by electron, optic, and atomic force microscopy.