두께 측정 영어 뜻 - 영어 번역

• thickness measurement
• thickness gauge

한국어에서 두께 측정 을 사용하는 예와 영어로 번역

최대 0.025mm까지 두께 측정.
Thickness measurement to 0.025 mm.

Bowman XRF 코팅 두께 측정 시스템.
Bowman XRF Coating Thickness Measurement Systems.

Mm의 정확도로 두께 측정.
Thickness measurement with the accuracy of+_ 0.02 mm.

물리적 검사 코팅 두께 측정 - x-레이 형광 분석.
Coating thickness measurement- X-ray fluorescence analysis.

벽면 두께와 층 두께 측정 장비.
Measuring devices for wall thickness and layer thickness.

Bowman XRF 코팅 두께 측정 시스템 및 원소 분석.
Bowman XRF Coating Thickness Measurement Systems and Elemental Analysis.

Nm에서 500 micron 까지 금속 박막의 층 두께 측정.
Layer thickness measurement of metal-films from 5 nm to 500 microns.

SR (박막 두께 측정), 2PM/RPM (플라즈마 상태 모니터링) 등.
SR(Film thickness measurement), 2PM/RPM(In-situ Plasma monitoring) etc.

석유-페인팅, 마약에 대 한 이번 주 영화 젖은 GB 0-150um 코팅 두께 측정.
Wet film GB 0- 150um coating thickness gauge for oil- painting, dope.

주름진(wrinkled)필름 조차 고도로 정밀한 두께 측정을 구하는 능력.
Ability to obtain highly precise thickness measurements, even on wrinkled films.

Anton Paar는 완전한 코팅 두께 측정용 소프트웨어를 제공합니다.
Anton Paar provides a complete software for coating thickness measurement.

금속두께 측정 50nm까지 두꺼운 금속 필름의 두께, 굴절률.
Metal Thickness Measure thickness, index, and k of metal films up to 50nm thick.

MTJ 스택의 개별 금속 층 두께 측정을 위한 높은 수준의 정확도가 필요합니다.
High accuracy for individual metallic layer thickness measurements in the MTJ stack is required.

자리 LCD 코팅 두께 측정 TG-8010 코팅 검사, 페인트 검사에 대 한.
Digits LCD Coating thickness gauge TG-8010 for coating inspection, paint inspection.

추가 적용 분야는 시각적으로 불투명하고 투명한 플라스틱들의 두께 측정입니다.
Further fields of application include the thickness measurement of visually opaque and transparent plastics.

박막의 두께 측정을 위한 Alpha Step, 3D Surface Prof., Reflectometer 장비 보유.
Alpha Step, 3D Surface Prof., Reflectometer for measuring thin film thickness.

추가 적용 분야는 시각적으로 불투명하고 투명한 플라스틱 제품들의 두께 측정입니다.
Additional application areas are the thickness measurement of visual opaque as well as transparent plastic products.

XRF 코팅 두께 측정 기기, 실리콘 PIN 다이오드 검출기, 실리콘 드리프트 검출기에 대한 FAQ.
FAQs on XRF coating thickness measurement instruments, silicon PIN diode detectors, silicon drift detectors.

결함에 대해 선택한 두께 측정 또는 X - 레이 특정 부위를 선택하여 임의로 조사합니다.
Whether it's random probing of the tubes for defects, taking selected thickness measurements, or X-raying certain areas;

INFICON ModeLock 기술은 매우 낮은 속도에서도 가장 안정적이고 가장 높은 해상도의 속도 및 두께 측정 가능.
INFICON ModeLock technology ensures the most stable, highest resolution rate and thickness measurement available, even at very low rates.

파릴렌코팅 단순히 두께 측정을 위해서 F3-CS의 stage에 페럴린 코팅된 샘플을 올려 놓으세요!
Parylene Coatings Simply set your parylene-coated sample on the stage of the F3-CS to measure its thickness!

두께 측정위치는 가장자리로부터 Mill Edge는 25mm 이상, Slit Edge는 15mm이상 내측의 임의의 점으로 합니다.
Thickness is measured at an arbitrary point that is more than 15mm inward from the edge in case of slit edge, and 25mm in case of mill edge.

Bowman 시스템은 "3-in-one"XRF이며 두께 측정, 원소 분석 및 도금 솔루션 분석을 제공합니다.
Bowman systems are“3-in-one” XRFs, providing thickness measurement, elemental analysis, and plating solution analysis.

와전류 검사는 전자기 유도원리를 사용해, 표면직하 결함, 두께 측정, 금속의 특정 재료 속성을 분류하는데 활용합니다.
Eddy Current testing utilizes principles of electromagnetic induction to locate near-surface cracks, measure thickness, and categorize certain material properties in metals.

Bowman 팀은 코팅 두께 측정 및 원소 분석 업계에서 50 년 이상의 경험을 쌓은 이점을 고객에게 제공합니다.
The Bowman team offers customers the advantage of more than five decades of combined experience in the coating thickness measurement and elemental analysis industry.

SiMPore는 제품 개발에 초점을 맞춘 초기 자본으로 세워진 회사로서는 설비 구입자금을 받기 전에 일부 두께 측정을 얻는 경제적인 방법이 필요로 했습니다.
Christopher Striemer, VP of Membrane Development for SiMPore. As a startup company with initial capital focused on product development, SiMPore needed an economical way to obtain some thickness measurements before receiving the funds to purchase an instrument.

Spellman의 DXM는 XRD, XRF에 사용되는 X선 시스템, 두께 측정과 플라스틱 분류부터 NDT에 이르기까지, 광범위한 산업 및 분석용 응용제품에 용이하게 통합됩니다.
Spellman's DXM easily integrates into X-Rays systems used for XRD, XRF, and a wide variety of industrial and analytical applications from thickness gauging and plastics sorting to NDT.

X-RAY 8000의 성공은 측정 장비의 새로운 시리즈까지 이전되었고, X-RAY 2000 시스템은 전에는 불가능 했던 전선 및 케이블 피복과 절연라인의 층두께 측정을 위해 설계되었습니다.
Success of the X-RAY 8000 is transferred to a modern series of measurement devices, the X-RAY 2000 system, designed for the measurement of the wall thickness in wire and cable jacketing and insulating lines that was not possible before.

의 XNUMX 월 K ALPHA는 코팅 두께 측정, 원소 분석 및 용액 분석을위한 X 선 형광 분석 (XRF) 계측의 오랜 파트너 인 Bowman을 인수했습니다.
In May of 2016, K ALPHA acquired Bowman, its long-time partner for X-Ray Fluorescence(XRF) Instrumentation for coating thickness measurement, elemental analysis, and solution analysis.

LEXT OLS4000의 새로운 다층 모드는 각 층별로 피크 점의 초점 포인트에 따라 반사되는 빛의 강도를 가지고 투명한 시편의 표면 관찰과 측정이 가능하게 할 뿐만 아니라 다층의 각 레이어의 두께 측정을 가능하게 합니다.
The LEXT OLS4000's new multilayer mode is capable of recognizing the peaks of the reflected light intensities of multiple layers and setting each layer as the focal point, making it possible to observe and measure the upper surface of a transparent specimen, as well as to analyze multiple layers and to measure the thickness of each layer.