PROBE MICROSCOPE на Русском - Русский перевод

• зондового микроскопа
• зондовый микроскоп

Примеры использования Probe microscope на Английском языке и их переводы на Русский язык

Probes for scanning probe microscopes;
Иглы сканирующих зондовых микроскопов;

Scanning Probe Microscope with optical video microscope..
Сканирующий зондовый микроскоп с оптическим видеомикроскопом.

New series V of scanning probe microscopes.
Новая серия V сканирующих зондовых микроскопов.

Scanning probe microscope JSPM-5400(2008)- mineralogy, development of new materials.
Сканирующий зондовый микроскоп JSPM- 5400( 2008)- минералогия, разработка новых материалов.

Certus Light- Entry Level Scanning Probe Microscope SPM.
Certus Light- сканирующий зондовый микроскоп( СЗМ) начального уровня.

SPM- scanning probe microscope adjustment.
СЗМ- настройка сканирующего зондового микроскопа.

Certus Standard- Basic Configuration of Scanning Probe Microscope.
Certus Standard- сканирующий зондовый микроскоп( СЗМ), базовая конфигурация.

Multifunction Scanning Probe Microscope with Diamond Tip.
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп с алмазным острием.

Design and construction of the special-purpose scanning probe microscopes.
Разработка сканирующих зондовых микроскопов для специальных применений.

In basic case Scanning Probe Microscope(fig. 2.1) includes.
Рис. 2. 1 Принципиальное устройство сканирующего зондового микроскопа.

Fig. 2.15 Combination of the optical and scanning probe microscopes.
Рис. 2. 17 Реализация на практике идеи совмещения оптического и сканирующего зондового микроскопов.

The basis for SPM(scanning probe microscope) is the scanning head.
Основой СЗМ( сканирующего зондового микроскопа) является сканирующая головка.

This section describes the operation modes of scanning probe microscope.
В данном разделе описана работа со сканирующим зондовым микроскопом Certus в режиме атомно- силового микроскопа..

Regardless of the scanning probe microscope mode, the principle of holder connecting is the same.
Независимо от режима работы сканирующего зондового микроскопа принцип подключения держателя зондов одинаков.

Probes main parameters The main element of any scanning probe microscope- is the probe..
Основные параметры зондов Основной элемент любого сканирующего зондового микроскопа- зонд.

SPM- scanning probe microscope adjustment This instrument panel are used to control and operate with the stepper motors.
СЗМ- настройка сканирующего зондового микроскопа На панели Калибровки устанавливаются параметры калибровки шаговых двигателей.

Image was obtained with scanning probe microscope Certus Light.
Изображание получено с помощью сканирующего зондового микроскопа Certus Light в режиме атомно- силового микроскопа..

To study these materials(or sometimes metamaterials) use several methods of analysis, including scanning probe microscopes.
Для изучения подобных материалов( или иногда метаматериалов) используют несколько методов анализа, в том числе и сканирующие зондовые микроскопы.

To overcome this lack combine a scanning probe microscope with an optical one.
Для преодоления этого ограничения совмещают сканирующий зондовый микроскоп с оптическим микроскопом..

One of the major limitations of scanning probe microscope is the difficulty in finding the site of interest on the surface of the research object, as well as the installa tion of the probe to a selected point on the surface.
Одним из основных ограничений сканирующего зондового микроскопа яв ляется трудность в поиске представляющего интерес участка на поверхности объекта исследования, а так же установка зонда в выбранную точку на поверхно сти.

NSpec Software NSpec software is used to control scanning probe microscope Certus Standard.
Программное обеспечение NSpec Программное обеспечение NSpec предназначено для работы со сканирую щим зондовым микроскопом Certus Standard.

Analog information obtained by the probe microscope, is digitized and represented as a two-dimensional matrix of integers.
Аналоговая информация, полученная с помощью зондового микроскопа, оцифровывается и представляется в виде двумерной матрицы целых чисел.

The program is used for control scanning probe and optical confocal microscopes and scanning probe microscope controller EG series.
Данная программа используется для управления сканирующи ми зондовыми микроскопами и конфокальными микроскопами, контроллером ска нирующих зондовых микроскопов серии EG.

Scanning head Certus The basis of the scanning probe microscope Certus Standard is a scanning head of the new generation.
СЗМ головка Certus Основой сканирующего зондового микроскопа Certus Standard является ска нирующая головка нового поколения.

They also cover solution of applied problems, such as development of lasers and laser processing facilities; the physical principles of laser ablation and thin film deposition; development of multilayer x-ray optics, the physics underlying its technology, and some applications; development of the physical principles underlying technology of high-temperature superconductor films and device designing on their basis; construction and application of scanning probe microscopes for research and technological tasks.
Это и решение таких прикладных задач, как разработка лазеров и лазерных технологических установок, физических основ лазерной абляции и напыления тонких пленок, создание многослойной рентгеновской оптики, физических основ ее технологии и некоторых приложений, построение физических основ технологии пленок высокотемпературных сверхпроводников, построение некоторых приборов на их основе, построение и использование для исследовательских и технологических целей сканирующих зондовых микроскопов.

Certus(version- Certus Standard)- a scanning probe microscope to study physical and chemical properties of the surface;
Certus( модификация Certus Standard)- как сканирующий зондовый микроскоп для исследования физико-химических свойств поверхности;

Some important properties of these films can be studied with a scanning probe microscope in the mode atomic force microscope..
Некоторые важные свойства таких пленок можно изучить с помощью сканирующего зондового микроскопа в режиме атомно- силового микроскопа..

Piezoelectric phenomena All modern scanning probe microscopes, scanning/positioning systems, regardless of design, uses the inverse piezoelectric effect for positioning and movement.
Использование пьезоэффекта Во всех современных сканирующих зондовых микроскопах, независимо от конструкции, для позиционирования зонда и его перемещения относительно по верхности используется обратный пьезоэлектрический эффект.

Currently, within the group of companies"NT-MDT" development and production of a number of worldwide-recognized probe devices of a wide range is in progress, including training probe microscopes, automated instruments, instruments for research, industrial applications, etc.
В настоящее время в рамках группы предприятий« НТ- МДТ» проводятся разработки и выпуск целого ряда получивших признание во всем мире зондовых приборов широкой номенклатуры, включая учебные зондовые микроскопы, автоматизированные приборы, приборы для научных исследований, для промышленных применений и т. д.

Via test gratings can calibrate scanning probe microscopes, so that would be measured by its parameters from the actual objects on the axes X, Y, Z.
С помощью тестовой решетки можно откалибровать сканирующий зондовый микроскоп, так что бы измеряемые им параметры соответствавали действительным размерам объектов по осям XYZ.