走査型電子顕微鏡 英語 意味 - 英語訳 - 日本語の例文

日本語 での 走査型電子顕微鏡 の使用例とその 英語 への翻訳

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SEM(走査型電子顕微鏡)部分。
走査型電子顕微鏡(SEM)。
Scanning Electron Microscope(SEM).
走査型電子顕微鏡(SEM)による評価。
走査型電子顕微鏡(EDS分析)JSM-5800LV日本電子株式会社。
Scanning electron microscope(EDS analysis) JSM-5800LV JEOL Ltd.
透過走査型電子顕微鏡
Transmission scanning electron microscopy.
走査型電子顕微鏡(SEM)。
Scanning Electron Microscopes(SEM).
走査型電子顕微鏡(SSSC-01)。
Scanning Electron Microscopes(SSSC-01).
走査型電子顕微鏡(SEM-EDX。
Scanning electron microscope(SEM-EDX).
走査型電子顕微鏡(キーエンス)。
Scanning electron microscope(Keyence).
私達のサンプルをテストする使用された走査型電子顕微鏡
Used Scanning electron Microscope to test our sample.
電子顕微鏡表面観察走査型電子顕微鏡
Electron-microscopic surface observation Scanning electron microscope.
EM-30PLUSのデスクトップの走査型電子顕微鏡
EM-30PLUS desktop scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡
Scanning electronic microscope.
走査型電子顕微鏡(SEM)。
Scanning Eletron Microscope(SEM).
その上で、走査型電子顕微鏡を置きます。
And it came up"Au, you know, gold. put the scanning electron microscope on it.
イタリア、ナポリ第2大学のマリオ・デ・ステファノさんが、地中海から採取したこの“極微のジャングル”を走査型電子顕微鏡でとらえた。
Mario De Stefano of the Second University of Naples, Italy,captured this miniscule"jungle" from the Mediterranean Sea with a scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡(SEM)や原子間力顕微鏡(AFM)の微動アクチュエータに圧電セラミックスが動力源として使用されます。
The micromotion actuators of the scanning electron microscope(SEM) and atomic force microscope(AFM), are used piezo ceramics as a power source.
分析試験事例紹介:物理分析:C-04--走査型電子顕微鏡(SEM)による各種材料の破面観察事例--。
Analysis& Testing Examples: Physical Analysis:C-04--Fractographic study examples of various materials via scanning electron microscope(SEM)--.
ラボで走査型電子顕微鏡(SEM)を用い、内側のバイオプラスチック面への流れの影響を試験する。
We test the flow impact on the inner bioplastic surface with the scanning electron microscope(SEM) at the lab.
また、3階「技術革新と未来」の「走査型電子顕微鏡」「原子間力顕微鏡」「マイクロマシン工房」は5月10日(月)をもちまして展示を終了させていただきます。
In addition to this, the"scanning electron microscope" and the"atomic force microscope" exhibits and the"Micromachine Studio" on the 3F"Innovation and the Future" will be terminated after May 10 Mon.
今回新たに発見した波状の構造を、走査型電子顕微鏡(SEM)で分析したところ、結晶粒によって波の向きと間隔が異なっていることが分かりました。
When we analyzed the structure of thenewly discovered undulating structure using a scanning electron microscope(SEM), we learned that the direction and intervals of the undulating structure differed depending upon the crystal grain.
ひまわり-広島大学シーズデータベース研究内容(1)走査型電子顕微鏡や準超薄連続切片とコンピュ-タ-を用いた立体構築法で細胞の三次元的形態を追求。
ひまわり- 広島大学シーズデータベース(1) Some of cells in our body were observed using Scanning electron microscopy or reconstructed three-dimensionally with computer-assisted method using serial semithin sections.
今回の研究では、本学のイメージング研究センターに導入されている走査型電子顕微鏡(SEM)を使って得たデータをもとに、3Dプリンターで結節を持つ翅を再現。
The abovementioned research utilized a scanning electron microscope(SEM) at Tokai's Imaging Center for Advanced Research to obtain data to recreate a dragonfly's wings, including the nodus, using a 3-D printer.
走査型電子顕微鏡の試料は、特に金属製品のための三辺にその構造、多面的な観察領域を観察するために非常に簡単であり、非常に薄いシート状に切断しません。
Scanning electron microscopy of the sample is simple and does not need to cut into thin sheets, especially for metal products, it is to observe its structure, multi-faceted observation space on three diementional.
下の写真は,三次元マイクロ構造の概略図とその走査型電子顕微鏡写真,およびそれが白色発光をしている様子を示している。
The figure below shows a schematic outline and a scanning electron microscope image of a three-dimensional microstructure, and a white light-emitting element based on such a structure.
走査型電子顕微鏡による画像分析およびフーリエ変換赤外分光高度法(FTIR)による分析により、TiO2粒子は基板表面を沈着できたことが確認されました。
Scanning electron microscopy image analysis and Fourier transform infrared spectroscopy analysis indicated that the TiO2 particles were successfully deposited onto the substrate.
テクスチャ分析器と走査型電子顕微鏡で食品の質感を作り、ソフトウェア「ABAQUS」を用いた有限要素(FE)シミュレーションで、フィルムの性能を予測しました。
We characterized the food texture by texture analyzer and scanning electron microscope. We predicted the performance of the edible film by finite element(FE) simulations with software ABAQUS.
大型真空ホットプレス、レーザー加工機、高精度温度均一性評価装置、走査型電子顕微鏡、X線撮像装置、三次元座標測定機から、はてはクラス100/1000クリーンルームまで。
From large vacuum hot press, laser processing machine,high precision temperature uniformity evaluation system, scanning electron microscope, X-ray imaging system, three-dimensional coordinate measuring machine, to class 100/1000 clean room.
応用物理第87巻第10号(2018)-応用物理学会シリコン薄膜における集熱を実現した構造の走査型電子顕微鏡像と,熱フラックスの空間分布シミュレーション。
OYO BUTURI Vol.87 No.10(2018)- JSAP Scanning electron microscope images and simulated heat flux distributions in Si membrane thermal lens structures.
結果: 29, 時間: 0.0294

文で「走査型電子顕微鏡」を使用する方法

選択してください 電界放出型透過電子顕微鏡 JEM-2200FS 透過電子顕微鏡 JEM-2100 走査電子顕微鏡 電界放出型走査型電子顕微鏡(FESEM) 走査型電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡 電界放出型走査型電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡
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