SCANNING ELECTRON MICROSCOPY 日本語 意味 - 日本語訳 - 英語の例文

• 走査電子顕微鏡

英語 での Scanning electron microscopy の使用例とその 日本語 への翻訳

Scanning Electron Microscopy.
走査型電子顕微鏡。

Transmission scanning electron microscopy.
透過走査型電子顕微鏡。

Scanning electron microscopy(SEM) evaluations.
走査型電子顕微鏡（SEM）による評価。

Field Emission Scanning Electron Microscopy.
電界放射型走査電子顕微鏡）。

The shape of microparticles and nanoparticles may be determined by scanning electron microscopy.
微粒子およびナノ粒子の形状は、走査電子顕微鏡法により判定し得る。

Photoelectron microscopy(PEEM) and scanning electron microscopy(SEM) are also used to measure non-uniform material surfaces at the nano meter scale.
表面ナノドメインの理解不均一な物質表面をナノレベルで計測するために光電子顕微鏡法(PEEM)と走査電子顕微鏡法(SEM)を使用しています。

The tungsten filament is quite sturdy and provides stable and uniform electron emission, primarily used in scanning electron microscopy.
タングステンフィラメントは、非常に頑丈であり、主走査電子顕微鏡で使用される安定した均一な電子放出を提供します。

Triggered by the development of three-dimensional scanning electron microscopy, an emerging research field called"Connectomics" has developed rapidly in the United States.
三次元走査電子顕微鏡の開発により、米国では「コネクトミクス」という新しい研究領域が急速に発展しています。

Hot press, ultrasonic inspection system, universal testing machine, strain measurement system, digital microscope, X-ray microscopy, field emission scanning electron microscopy.
ホットプレス、超音波探傷装置、万能試験機、ひずみ計測システム等、デジタルマイクロスコープ、顕微X線CT、電界放出型走査電子顕微鏡分析システム。

(d) to 1(e), the acceleration voltage of scanning electron microscopy is 18 kV.
図1(a)～（cについては、走査電子顕微鏡の加速電圧は20kVである。

Scanning electron microscopy image analysis and Fourier transform infrared spectroscopy analysis indicated that the TiO2 particles were successfully deposited onto the substrate.
走査型電子顕微鏡による画像分析およびフーリエ変換赤外分光高度法(FTIR)による分析により、TiO2粒子は基板表面を沈着できたことが確認されました。

(d) to 1(e), the acceleration voltage of scanning electron microscopy is 18 kV.
また、図1(d)と（eについては、走査電子顕微鏡の加速電圧は18kVである。

Scanning electron microscopy of the sample is simple and does not need to cut into thin sheets, especially for metal products, it is to observe its structure, multi-faceted observation space on three diementional.
走査型電子顕微鏡の試料は、特に金属製品のための三辺にその構造、多面的な観察領域を観察するために非常に簡単であり、非常に薄いシート状に切断しません。

ひまわり- 広島大学シーズデータベース(1) Some of cells in our body were observed using Scanning electron microscopy or reconstructed three-dimensionally with computer-assisted method using serial semithin sections.
ひまわり-広島大学シーズデータベース研究内容(1)走査型電子顕微鏡や準超薄連続切片とコンピュ-タ-を用いた立体構築法で細胞の三次元的形態を追求。

Ingens from southeast France, using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectroscopy to visualise the structure of the eyes and other internal organs.
Ingensの化石を調べ、走査電子顕微鏡法とエネルギー分散型X線分光法を用いて、目とその他の内臓器官の構造を可視化した。

Applied Materials' world first inline Electron Beam Review(EBR) system integrates semiconductor scanning electron microscopy(SEM) with AKT's large-scale vacuum platform.
アプライドマテリアルズによる世界初のインライン電子ビームレビュー(EBR)装置は、半導体走査型電子顕微鏡検査(SEM)を、AKTの大規模真空プラットフォームに統合しています。

Finally, use X-ray diffraction analysis, scanning electron microscopy and energy dispersive spectroscopy to analyze the product phase, morphology and granularity.
最後に、X線回折分析を使用することは、走査型電子顕微鏡及びエネルギー分散分光法は、生成物相、形態および粒子サイズ分析でした。

We evaluate your products and test for legal compliance- covering everything from flexibility and abrasion resistance tests, impact tests, ozone resistance tests, melting point tests, and scanning electron microscopy analysis.
たわみ性および耐摩耗性試験、衝撃試験、耐オゾン性試験、溶融点試験、走査電子顕微鏡法分析のすべてをカバーしながら製品を評価し、合法性を審査・検証します。

The easiest observation method for asperity is to take pictures of the surface image with scanning electron microscopy(SEM). However, with SEM, it is usually difficult to detect asperity in nanometer order.
表面凹凸のもっとも容易な観察方法は走査電子顕微鏡(SEM)による表面像の撮影であるが、SEMでは通常ナノメートルオーダーの凹凸の検出は困難である。

The attachment of binding agents that are proteinacious such as antibodies to metal-like and non-metal like particles and other surfaces by the method of adsorption are well known in the artsee M. Horisberger, Scanning Electron Microscopy(1981), 2.
抗体のようなタンパク質性結合剤の、金属様及び非金属様粒子及び他の表面への、吸着の方法による付着は、従来技術において周知ある（M.Horisberger,ScanningElectronMicroscopy(1981),2,p9-31を参照されたい）。

All replicas are suitable for 3D examination by Scanning Electron Microscopy(SEM) and non-contact metrology methods such as interferometry, laser scanning and shadowgraph projection.
全てのレプリカは電子顕微鏡（SEM）のスキャン、干渉分光法などの非接触式の度量衡方法、レーザスキャン、シャドウグラフ投影による3D検査に適しています。

AKT® eBeam Review| Applied Materials Advanced display technologies require an increasing number of process steps resulting in more and smaller contaminates, and new types of defects. Current inline automated optical defect inspection tools for displays are not as effective as scanning electron microscopy(SEM) analysis in distinguishing killer from non-killer defects, or in determining systematic root causes of defects.
AKT®電子ビームレビュー|AppliedMaterialsディスプレイ用に現在使われているインライン自動光学欠陥検査ツールは、キラー欠陥かそうでないかを区別する、または欠陥のシステム上の根本原因を判断するのに、走査型電子顕微鏡(SEM)分析ほど有効ではなく、ディスプレイに関してSEM分析を行うには、ガラス基板を破砕し、顕微鏡で各断片を別々に検査する必要がありました。

Using a number of techniques including spectrophotometry and scanning electron microscopy, Dakota McCoy and colleagues investigated the role that structural absorption of light may play in black feathers from seven species of birds of paradise five species had profoundly back plumage and two species had normal black plumage.
今回、DakotaMcCoyたちの研究グループは、分光光度法、走査型電子顕微鏡など数々の方法を用いて、フウチョウ科の7種の鳥(そのうちの5種が超黒色の羽毛を有し、2種が普通の黒色羽毛が有している)から採取された黒色の羽根において、構造による光の吸収が果たす役割を調べた。

Jean Vannier and colleagues examine exceptionally-well preserved fossils of D. ingens from southeast France, using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectroscopy to visualise the structure of the eyes and other internal organs.
今回、JeanVannierたちは、フランス南東部で発掘された保存状態の極めて良好なD.ingensの化石を調べ、走査電子顕微鏡法とエネルギー分散型X線分光法を用いて、目とその他の内臓器官の構造を可視化した。

To do so, they used a method with extremely high spatial resolution called serial scanning 3-D electron microscopy.
そのために、連続走査3次元電子顕微鏡法(serialscanning3-Delectronmicroscopy)と呼ばれる、極めて高い空間分解能を使った方法を利用しています。

To do so, they used a method with extremely high spatial resolution called serial scanning 3-D electron microscopy.
そのために、彼等は、連続走査3次元電子顕微鏡法(serialscanning3-Delectronmicroscopy)と呼ばれる、極めて高い空間分解能を使った方法を利用しています。

Shows the scanning transmission electron microscopy(STEM) images of unstained bacteriophage T4 recorded at 20 kV on the graphene(left) and conventional carbon(right) support films.
Fig.3はグラフェン(a)及び一般的なカーボン支持膜(b)上で撮影したバクテリオファージT4の20kV走査透過電子顕微鏡像を比較したものである。

We have also developed a new method to map local structural variations in a nanoscale spatial resolution with the combined use of the scanning transmission electron microscopy(STEM) and the CBED.
さらに、走査透過電子顕微鏡(STEM)法とCBED法を組み合わせることで、ナノスケール空間分解能で局所結晶構造の変化をマッピングする新たな手法(STEM-CBED法)を開発しました。

They then characterized the samples using amplitude-modulation atomic force microscopy(AM-AFM) and scanning transmission electron microscopy(STEM) to see any disruption of nanoscale structures. While most AFM experiments use a tiny vibrating cantilever to trace the height of surface atoms, AM-AFM measures variations in the amplitude and phase of the oscillating tip.
次に、振幅変調型原子間力顕微鏡法(AM-AFM)と走査型透過電子顕微鏡法(STEM)を用いて試料の評価を行い、ナノスケール構造の乱れを調べた。AFM実験では、振動する微小なカンチレバーを用いて表面原子の高さを測定することが多いが、AM-AFMでは、振動するチップの振幅と位相の変動を測定する。