ACCELERATING VOLTAGE 日本語 意味 - 日本語訳 - 英語の例文

[ək'seləreitiŋ 'vəʊltidʒ]
[ək'seləreitiŋ 'vəʊltidʒ]

英語 での Accelerating voltage の使用例とその 日本語 への翻訳

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Accelerating Voltage: 120kV.
加速電圧:120kV。
Wide range of accelerating voltage settings.
幅広い加速電圧の設定に対応。
Accelerating voltage 0.1kV to 30kV.
加速電圧0.1kV~30kV。
Energy selection at low accelerating voltages.
加速電圧でのエネルギー選別。
Max. accelerating voltage:200kV.
最高加速電圧:200kV。
GB mode improves resolution at low accelerating voltage.
GBモードは、低加速電圧での分解能を向上します。
Ion accelerating voltage 2 to 8kV.
イオン加速電圧2~8kV。
GBSH is a method which improves spatial resolution at any accelerating voltage.
GBSHは低加速電圧分解能を上げる手法です。
Accelerating voltage 1- 5kV(continuous variable).
加速電圧1∼5kV(連続可変)。
Table 2: A filled-in table of the data collection for a particular accelerating voltage.
表2:特定の加速電圧のデータコレクションの塗りつぶされたテーブル。
Accelerating voltage 1 -30kV(according to the SEM basic specification).
加速電圧1∼30kV(SEM基本仕様による)。
The topmost surface imaging at low accelerating voltage by Gentle Beam mode(GB).
応用例3ジェントルビームモード(GB)による低加速電圧最表面観察。
Accelerating voltages of 300 kV and 80 kV are provided in the standard configuration.
加速電圧300kVと80kVが標準で構成されています。
Then calculate the average for both varying accelerating voltage and varying X&Y locations conditions.
様々な両方加速電圧と変化X&Yの場所の条件の平均値を計算します。
Detector sensitivity is highly improved andhigh compositional contrast image can be observed at low accelerating voltage.
従来比で感度が大幅に向上しており、低加速電圧でも高い組成コントラストが得られます。
As an option, accelerating voltages are selectable in the range from 40 kV to 300 kV to adapt for wide field of applications.
オプションにて40kV~300kVの範囲で目的に合わせた加速電圧の構成に対応します。
In some applications, the filament output"floats" on the accelerating voltage.(Bertan High Voltage)..
一部のアプリケーションでは、フィラメント出力が加速電圧上で「フロート」する。(BertanHighVoltage)。
Do not exceed 3,500 V for the accelerating voltage, and turn the accelerating voltage down to zero when measurements are not being taken.
加速電圧V3,500を超えるし、測定が取られていないときゼロに加速電圧をオンにしません。
GBSH(GENTLEBEAM™ Super High resolution mode)provides us high spatial resolution images at ultra low accelerating voltage.
GBSH(GENTLEBEAM™SuperHighresolutionmode)によって、極低加速電圧でも高分解能観察が可能です。
Next, repeat the full experiment, while this time keeping accelerating voltage constant, and varying the X, Y and X, negative Y locations.
次に、フルの実験では,この時間加速電圧を一定に保つことと、X、Y、X、Y位置を負に変化を繰り返します。
This detector always enables the acquisition of high-contrast and quantitative STEM images,irrespective of accelerating voltage settings.
NEOARM"は、この検出器を搭載しており、加速電圧によらず常に高コントラストと定量性のあるSTEM像を得ることが可能となりました。
GBSH allows you to select the accelerating voltage best suited to the application, from specimen surface observation to nano-scale element analysis.
GBSHは試料最表面観察からナノスケールの分析まで多岐にわたる応用に合わせて加速電圧を選択することができます。
Data management is carried out byautomatically collecting the parameters such as magnification and accelerating voltage along with analysis data.
分析データと共に電顕本体装置の倍率、加速電圧等のパラメーターを自動収集し、データの管理を行います。
Guaranteed resolution of 1.6 nm at a low accelerating voltage of 1 kV is delivered by a magnetic/electrostatic hybrid conical objective lens, GB mode and in-lens detector.
電磁界重畳型コニカル対物レンズ、GBモード、インレンズ検出器を搭載することにより、1kVの低加速電圧で保証分解能1.6nmを実現しました。
In this part of the experiment, record five sets of data,each with a different accelerating voltage with the same(X, Y) and(X,- Y) combination.
この実験では、記録データは、それぞれ異なる加速電圧と同じ(X,Y)と(X,-Y)の5つのセットの組み合わせです。
The low-aberration hybrid lens and GB(Gentle Beam mode)enables high resolution observation of insulating materials at very low accelerating voltage.
低収差のハイブリッドレンズとGB(ジェントルビームモード)により、絶縁物であっても、極低加速電圧で高分解能観察が可能です。
This allows the user tp-obtain probecurrent from a few pA to a few decades nA even at low accelerating voltage. The system provides users high resolution observation, high-speed element mapping and EBSD analysis.
電子銃から発生する電子を効率よく集めることができ、低加速電圧でも数pA~数10nAの照射電流が得られ、対物絞りの交換無しで高分解能観察から高速度元素マッピングやEBSD分析まで行えます。
The JSM-7500F features an optical system that includes a semi-in-lens type objective lens,which can collimate the electron beam even at low accelerating voltages.
JSM-7500Fは低加速電圧でも電子線を細く絞ることができる電界放出形電子銃とセミインレンズ方式の対物レンズとを組み合わせた光学系のSEMです。
The maximum permissible thickness varies with the elements making up the sample(high atomic number elements are less transmissive)and the beam accelerating voltage(higher accelerating voltages enhance beam penetration), but it is typically in the range of one hundred to several hundred nanometres.
可能な最大厚さは、試料の作製要素(原子量が多いほど透過性が低い)とビームの加速電圧(加速速度が高いほどビーム貫通性が強い)によって異なりますが、一般的にその範囲は100~数100ナノメートルです。
In addition to low-vacuum observation and element analysis, the JSM-IT100 accommodates a 5-axis motor drive stage.*An option to extend the accelerating voltage up to 30 kV is also available*.
低真空観察や元素分析にとどまらず5軸モーター駆動ステージ*が搭載可能になったほか、加速電圧を30kVまで拡張するオプションも選択可能です。*。
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