Que Veut Dire ELECTRON MICROSCOPE en Français - Traduction En Français

• electron microscope
• microscope électronique

Exemples d'utilisation de Electron microscope en Danois et leurs traductions en Français

SEM er kortsluttet fra Scanning Electron Microscope, og dens billede er taget fra forstørret billede af SEM.
SEM est court- circuitée de microscope électronique à balayage, et de sa photo est prise de l'image agrandie de SEM.

EØF: Kommissionens beslutning af 12. juli 1978 om anerkendelse af fritagelse for told efter den fælles toldtarif af det videnskabelige apparat»JEOL Electron Microscope, type JEM- 100 CX« EFTL 218 09.08.78 s.27.
CEE: Décision de la Commission, du 12 juillet 1978, admettant au bénéfice de la franchise des droits du tarif doua nier commun l'appareil scientifique dénommé«JEOL Electron Microscope, type JEM- 100 CX» JOL 218 09.08.78 p.27.

Camfils Scanning Electron Microscope(SEM), placeret på laboratoriet i Trosa, er et godt eksempel på, hvordan engagerede vi er i forskning og udvikling.
Le microscope électronique à balayage(MEB) de Camfil, situé dans son laboratoire de Trosa, est un bon exemple de notre engagement dans la recherche et le développement.

De to hovedtyper af elektronmikroskoper er Transmission Electron Microscope( TEM) og Scanning Electron Microscope( SEM).
Les microscopes électroniques sont de deux types: Numérisation Electron Microscope(SEM) et Transmission Electron Microscope(TEM).

Camfils Scanning Electron Microscope(SEM), placeret på laboratoriet i Trosa, er et godt eksempel på, hvordan engagerede vi er i forskning og udvikling.
Le microscope électronique à balayage(SEM) de Camfil, qui se trouve dans le laboratoire de Trosa, est un excellent exemple de notre engagement en matière de recherche et développement.

EØF: Kommissionens beslutning af 23. december 1981 om fastslåelse af, at indførsel af apparatet»Jeol scanning electron microscope, model JSM35C« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif.
CEE: Décision de la Commission, du 23 décembre 1981, constatant que l'importation de l'appareil dénommé«Jeol scanning electron microscope, model JSM35C» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun.

Scanning Electron Microscope(SEM) er en slags scanningsudstyr bruger til mikrografi ved at gange genstande, som kan være metal, pulver, grøntsager osv ammoniummetawolframat er en af can-scannes produkter.
Le microscope électronique à balayage(SEM) est un genre d'équipement de balayage utilisant pour la micrographie en multipliant des objets, qui peuvent être le métal, la poudre, les légumes etc.

EØF: Kommissionens beslutning af 30. december 1982 om fastslåelse af, at indførsel af apparatet»Jeol Scanning Electron Microscope, model JSM35C« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif!
CEE: Décision de la Commission, du 30 décembre 1982, constatant que l'importation de l'appareil dénomme«Jeol- Scanning Electron Microscope, model JSM-35 C» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commune!

SEM er det korte navn på Scanning Electron Microscope, og dets billede er taget fra forstørret billede af SEM, hvilket er et forstørret billede af et scanningelektronmikroskop scanbillede.
Le SEM est le nom abrégé du microscope électronique à balayage, et son image est prise à partir d'une image agrandie de SEM, qui est une photographie agrandie d'une image de balayage au microscope électronique à balayage.

EØF: Kommissionens beslutning af 5. juli 1983 om fastslåelse af, at indførsel af apparatet»JEOLScanning Electron Microscope, model JSM35 C« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif.
CEE: Décision de la Commission du 5 juillet 1983 constatant que l'importation de l'appareil dénommé« Jcol ν Scanning Electron Microscope, model JSM35C» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun JO L 188 13.07.83 p.220.

Ved kendelse af 17. juli 1990, indgået til Domstolen den 6. september s.a., havd Bundesfinanzhof i henhold til EØF-Traktatens artikel 177 forelagt et præjudiciel spørgsmål vedrørende gyldigheden af Kommissionens beslutning 83/348/EØF af 5. juli 1983, hvorved det blev fastslået, at apparatet"Jeol-Scanning Electron Microscope, model JSM-35C" ikke kan indføres med fritagelse for told efter Den Fælles Toldtarif(EFT L 188, s. 22).
Par ordonnance du 17 juillet 1990, parvenue à la Cour le 6 septembre suivant, le Bundesfinanzhof a posé, en vertu de l'article 177 du traité CEE, une question préjudicielle relative à la validité de la décision 83/348/CEE de la Commission, du 5 juillet 1983, constatant que l'Importation de l'appareil dénommé"Jeol- Scanning Electron Microscope, model JSM- 35C" ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun(JO L 188, p. 22).

EØF: Kommissionens beslutning af 11. november 1981 om fastslåclsc af, at indførsel af apparatet»JEOL Electron Microscope, model JEM100 CX« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif EFT L 347 03.12.81 s.27.
CEE: Décision de la Commission, du 11 novembre 1981, constatant que l'importation de l'appareil dénommé«JEOL- electron microscope, model JEM-100 CX» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun.

EØF: Kommissionens beslutning af 23. december 1981 om fastslåelse af, at indførsel af apparatet»Jeolscanning electron microscope, model JSM35C« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif EFT L 041 12.02.82 s.53.
CEE: Décision de la Commission, du 23 décembre 1981, constatant que l'importation de l'appareil dénommé«Jeol scanning electron microscope, model JSM35C» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun.

EØF: Kommissionens beslutning af 8. oktober 1981 om fastslåclsc af. at indførsel af apparatet»AKASHI-Scan-ning Electron Microscope, model ISI-DS-130« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif.
CEE: Décision de la Commission, du 8 octobre 1981, constatant que l'importation de l'appareil dénommé«Akashi scanning electron microscope, model ISI-DS-130» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun JO L 314 04.11.81 p.13.

EØF: Kommissionens beslutning af 23. december 1981 om fastslåclsc af. at indførsel af apparatet»Jeolscanning electron microscope, model JSM35C« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif ER L 041 12.02.82 s.53.
CEE: Décision de la Commission, du 23 décembre 1981, constatant que l'importation de l'appareil dénommé«Jcol scanning electron microscope, model JSM35C» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun JO L 041 12.02.82 p.53.

Kommissionens beslutning 83/348/EØF af 5. juli 1983, hvorved det blev fastslået, at apparatet"JEOL Scanning Electron Microscope, model JSM35C" ikke kan indføres med fritagelse for told efter Den Fælles Toldtarif, er ugyldig.".
II La décision 83/348/CEE de la Commission, du 5 juillet 1983, constatant que l'importation de l'appareil dénommé"JEOL- Scanning Electron Microscope, model JSM- 35C" ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun, est invalide.".

Kommissionens beslutning 83/348/EØF af 5. juli 1983, hvorved det blev fastslået, at apparatet"Jeol-Scanning Electron Microscope, model JSM-35C" ikke kan indføres med fritagelse for told efter Den Fælles Toldtarif, er ugyldig.".
La décision 83/348/CEE de la Commission, du 5 juillet 1983, constatant que l'Importation de l'appareil dénommé"Jeol- Scanning Electron Microscope, model JSH- 35C, ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun, n'est pas valide.".

EØF: Kommissionens beslutning af 19. maj 1982 om fastslåclsc af. at indførsel af apparatet»Akashi- Scanning Electron Microscope, model ISI- DS-130« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif EIT L 168 15.06.82 s.36.
CEE: Décision de la Commission, du 19 mai 1982, constatant que l'importation de l'appareil dénommé«Akashi -Scanning Electron Microscope, model ISI- DS-130» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun JO L 168 15.06.82 p.36.

EØF: Kommissionens beslutning af 8. oktober 1981 om fastslåelse af, at indførsel af apparatet»AKASHI-Scan-ning Electron Microscope, model ISI-DS-130« ikke kan ske med fritagelse for told efter den fælles toldtarif EFT L 314 04.11.81 s.13.
CEE: Décision de la Commission, du 8 octobre 1981, constatant que l'importation de l'appareil dénommé«Akashi scanning electron microscope, model ISTDS-130» ne peut être faite en franchise des droits du tarif douanier commun JO L 314 04.11.81 p.13.

Comment utiliser "electron microscope" dans une phrase en Danois

Selected area (electron) diffraction (abbreviated as SAD or SAED), is a crystallographic experimental technique that can be performed inside a transmission electron microscope (TEM).

DTI has been working on advanced electron microscope, x-ray diffraction and machine learning in order to optima pads.

Den hardware platform omfattede en Zeiss Supra 40 Field Emission Scanning Electron Microscope (SEM) med en NPGS 9,2 mønster generator.

Til at undersøge partiklerne brugte forskerne det næsten fire meter høje FEI TITAN Environmental Transmission Electron Microscope.

Dartmouth College Electron Microscope Facility, Public Domain.

SEM - SCANNINGSELEKTRONMIKROSKOP Camfils SEM (Scanning Electron Microscope), der er placeret på laboratoriet i Trosa, er et godt eksempel på, hvor engageret vi er i forskning og udvikling.

Looking through an electron microscope, Margit and Sylvan Nass noticed DNA fibers in structures called mitochondria, the energy centers of our cells.

Crystallographic characterization of planes in the scanning electron microscope.

Fuld opløsning ‎(1.544 × 2.400 punkter, filstørrelse: 1.002 KB, MIME-Type: image/jpeg) Low temperature scanning electron microscope [1] magnification a snow crystals.

Comprehensive Characterization of Extended Defects in Semiconductor Materials by a Scanning Electron Microscope.

Comment utiliser "electron microscope" dans une phrase en Français

6 As seen through a Transmission Electron Microscope Organites L appareil de Golgi transforme, emballe et sécrète les protéines.

(en) Cet article est partiellement ou en totalité issu de l’article de Wikipédia en anglais intitulé « Electron microscope » (voir la liste des auteurs).

X-ray element analysis in electron microscope – Portail d'information avec Microanalyse aux rayons X et EDX

Le microscope électronique à balayage (scanning electron microscope ou SEM) est un instrument produisant des images de haute résolution de la surface d'un échantillon.

Scanning Electron Microscope (SEM) - Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie

Ceci peut se voir avec un microscope électronique en transmission -- MET (transmission electron microscope -- TEM).

ORTH J., CHRISTENSEN A.K.: Localization of 125I-labeled FSH in the testes of hypophy-sectomized rats by autoradiography at the light and electron microscope levels.

Marrows, A transmission electron microscope study of Néel skyrmion magnetic textures in multilayer thin film systems with large interfacial chiral interaction.