What is the translation of " SCANNING ELECTRON " in Dutch?

• scanning electron
• scanning elektronen

Examples of using Scanning electron in English and their translations into Dutch

Figure 2: Vermicular graphite in a scanning electron microscope.
Figure 2: Vermicular graphite in a scanning elektron microscope.

Scanning Electron Microscopy(SEM) image of the thickness of the nail;
Scanning Electron Microscopy(SEM) beeld van de dikte van de nagel.

Links Human bone marrow stem cells under scanning electron microscope.
Scanning elektron microscopic(SEM) opname van een stamcel uit menselijk beenmerg.

Scanning electron microscopic(SEM) image of a stem cell from human bone marrow.
Scanning elektron microscopic(SEM) opname van een stamcel uit menselijk beenmerg.

He doesn't even know the difference between a GCMS and a scanning electron microscope.
Hij weet niet eens het verschil tussen een GCMS en een scannende elektronen microscoop.

The scanning electron microscope(SEM) is often used when visualization of a solid material is required.
Scanning elektronenmicroscopie(SEM) wordt vaak gebruikt bij de visualisatie van een vaste stof.

To do this our lab workers use a range of instruments including special Scanning Electron Microscopes.
Daarbij maken onze laboranten onder meer gebruik van speciale Scanning Elektronen Microscopen.

The SEM(Scanning Electron Microscope) picture below shows the ice cream microstructure.
Onderstaande afbeelding, gemaakt met een SEM(Scanning Electron Microscope), toont de microstructuur van roomijs.

Samples were observed for surface morphology under a Hitachi 4800 field emission scanning electron microscope at 3 kV.
Monsters werden waargenomen voor oppervlaktemorfologie onder een Hitachi 4800 veldemissie scanning elektronen microscoop op 3 kV.

The FEG SEM(field emission gun scanning electron microscope) makes electron images in which all colour information disappears.
Met de FEG SEM(field emission gun scanning elektron microscope) kunnen electronenbeelden gemaakt worden waarbij de kleurinformatie verloren gaat.

fluorescent and‘scanning electron' microscopes.
fluorescerende en‘scanningelektron' microscopen.

Scanning Electron Microscopy(SEM) image of the thickness of the nail;
Scanning Electron Microscopy(SEM) beeld van de dikte van de nagel.

sintered bulk materials: 1. scanning electron microscopy; 2.
van gesinterde lagen en bulkmaterialen: 1. scanning elektronen microprobe; 2.

EEC: Commission Decision of 23 December 1981 establishing that the apparatus described as'Jeol scanning electron microscope, model JSM-35C' may not be imported free of Common Customs Tariff duties OJ L 041 12.02.82 p.53.
EEG: Beschikking van dc Commissie van 23 december 1981 waarbij wordt vastgesteld dat het apparaat genaamd. Jcol scanning electron microscope, model JSM-35C" nict met vrijstelling van dc rechten van het gemeenschappelijk douanetarief mag worden ingevoerd PB L 041 12.02.82 blz.53.

as can be seen on the“scanning electron” microscopic image.
we kunnen zien op de“scanning elektron” microscopische foto.

QEMSCAN is an acronym for Quantitative Evaluation of Materials by Scanning Electron Microscopy, a system that differs from image analysis systems in that it is configured to measure mineralogical variability based on chemistry at the micrometer-scale.
QEMSCAN is een acroniem van Quantitative Evaluation of Materials door Scanning Electron Microscopy, een systeem dat afwijkt van beeldanalysesystemen in die zin dat het is geconfigureerd voor het meten van mineralogische variabiliteit op basis van chemie op micrometerschaal.

tunnel and scanning electron microscopy as well as plasma coating and etching processes.
tunnel en scanning elektronen microscopie, alsmede plasma coating en etsen van processen.

This metric is complementary to the traditional metrics based on scanning electron microscopy(SEM) with the benefits of removing the SEM noise(unbiased resist roughness)
Deze metriek is complementair aan de traditionele metrieken die op scanning elektron microscopy(SEM) gebaseerd zijn, maar heeft als voordeel dat de SEM-ruis(unbiased resist roughness)

EEC: Commission Decision of 22 September 1981 establishing that the apparatus described as'ETEC-Autoscan scanning electron microscope' may not be imported free of Common Customs Tariff duties OJ L 296 15.10.81 p.47.
EEG: Beschikking van dc Commissie van 22 september 1981 waarbij wordt vastgesteld dat het apparaat genaamd„ETEC-Autoscan Scanning Electron Microscope" nict met vrijstelling van dc rechten van het gemeenschappelijk douanetarief mag worden ingevoerd PB L 296 15.10.81 blz.47.

The methods employed will include a number of standard characterization protocols and tools(e.g., Scanning Electron Microscopy coupled to Energy Dispersive X-ray analysis,
De methoden die zullen worden gebruikt omvatten een aantal gestandaardizeerde analysemethoden en karakterisatieprotocols(zoals SEM/EDX(Scanning Electron Microscopy coupled to Energy Dispersive X-ray analysis),