Examples of using Scanning elektronmikroskop in Norwegian and their translations into English
{-}
-
Colloquial
-
Ecclesiastic
-
Ecclesiastic
-
Computer
Bildet tilsvarer et scanning elektronmikroskop.
The image corresponds to a scanning electron microscope.Scanning elektronmikroskop bilde av en gass-sensor segment fabrikkert av et halvledende nanowire av gallium nitride.
Scanning electron microscope image of a gas sensor segment fabricated of a semiconducting nanowire of gallium nitride.Den wolfram glødetråd er ganske solid og gir stabil og jevn elektron utslipp,først og fremst brukt i scanning elektronmikroskop.
The tungstenfilament is quite sturdy and provides stable anduniform I 8500 er en kompakt system som gir forskerne et felt utslipp scanning elektronmikroskop for lav spenning, høy ytelse imaging i sitt eget laboratorium.
The 8500 is a compact system that offers researchers a field emission scanning electron microscope for low-voltage, high-performance imaging in their own laboratory.Den MTII/ Fullam strekk stadier er unike,kompakte test systemer spesielt designet for å passe både optisk og scanning elektronmikroskop.
The MTII/Fullam tensile stages are unique,compact test systems specifically designed to fit both optical and scanning electron microscopes.Serien er allsidig ogomfatter selskapets HR scanning elektronmikroskop(XHR SEM) med en fokusert ion stråle(FIB), for forbedret bildebehandling og fresing evne.
The series is versatile andincorporates the company's HR scanning electron microscope(XHR SEM) with a focused ion beam(FIB), for enhanced imaging and milling capability.Zeolittene er karakterisert ved røntgen-diffraksjon, N2 adsorpsjon ogEnergy Dispersive X-ray Analysis ved hjelp av et scanning elektronmikroskop.
The zeolites are characterized by X-ray diffraction,N2adsorption and Energy Dispersive X-ray Analysis using a scanning electron microscope.Den Helios NanoLab DualBeam er en fokusert ion stråle/ scanning elektronmikroskop(FIB/ SEM) som skal brukes til å utforske nye prosesser for fabrikasjon av funksjonelle nanostrukturer og nanodevices.
The Helios NanoLab DualBeam is a focused ion beam/scanning electron microscope(FIB/SEM) that will be used to explore new processes for the fabrication of functional nanostructures and nanodevices.Den har et utvalg lasting på mindre enn 30 sekunder, ogautomatisert måleevne genererer statistisk gyldige data i den tiden det tar å laste en konvensjonell scanning elektronmikroskop(SEM).
It has a sample loading time of less than 30 seconds, andits automated measurement capability generates statistically valid data in the time it takes to load a conventional scanning electron microscope(SEM).For flertallet av scanning elektronmikroskop, overføring elektronmikroskop og scanning-transmisjon elektronmikroskop brukt i dag, er mer enn 98 prosent av de tilgjengelige X-ray signal fra mikroskoper neglisjert.
For the majority of scanning electron microscopes, transmission Hva skiller disse produktene er deres kompakte størrelse og fleksibel montering av inventar, slik atde kan installeres i nesten alle typer scanning elektronmikroskop(SEM), atomic force mikroskop(AFM) eller lysmikroskop(LM).
What distinguishes these products are their compact size and flexible mounting fixtures,allowing them to be installed into virtually every type of scanning electron microscope(SEM), atomic force microscope(AFM) or light microscope(LM).FEI Company(Nasdaq: FEIC), en ledende vitenskapelig instrumentering gir elektronmikroskop systemer for nanoskala applikasjoner på tvers av mange bransjer, kunngjorde i dag tilgjengeligheten av sin nye Nova(TM)NanoSEM 50 serie av ultra-høy oppløsning scanning elektronmikroskop(UHR SEM).
FEI Company(Nasdaq: FEIC), a leading scientific instrumentation company providing Med mer enn 60 år med teknologisk innovasjon og ledelse,har FEI setter ytelsen standard i overføring elektronmikroskop(TEM), scanning elektronmikroskop(SEM) og DualBeams™, som kombinerer en SEM med en fokusert ion stråle(FIB).
With a 60-year history of technological innovation and leadership,FEI has set the performance standard in transmission FEI Selskap(NASDAQ: FEIC), en ledende instrumentering selskap som tilbyr elektronmikroskop systemer for applikasjoner på tvers av mange bransjer, annonserer at de har inngått en avtale om å samarbeide med Nanonics Imaging Ltd, basert i Israel, for å utforske gjennomførbarheten av å legge en atom force mikroskop(AFM)til en FEI DualBeam fokusert ion stråle(FIB)/ scanning elektronmikroskop(SEM) system.
FEI Company(NASDAQ: FEIC), a leading instrumentation company providing Hvilken som helst egnet kjemisk analyseteknikken kan anvendes, menvi har brukt energi dispersiv røntgenanalyse(EDX) ved hjelp av et scanning elektronmikroskop for å fastslå sammensetningen av moder Ge-UTL zeolitt og de endelige zeolitter IPC-2 og -4(tabell 1).
Any suitable chemical analysis technique can be used, butwe have used energy dispersive X-ray analysis(EDX) using a scanning electron microscope to ascertain the composition of the parent Ge-UTL zeolite and the final zeolites IPC-2 and -4(Table 1).FEI Company(Nasdaq: FEIC),en ledende leverandør av atom-skala bildebehandling og analyse systemer, kunngjorde i dag salg av en Magellan™ ekstrem høy oppløsning scanning elektronmikroskop(XHR SEM) til Wageningen University.
FEI Company(Nasdaq: FEIC),a leading provider of high-resolution imaging and analysis systems, today announced the release of two dedicated scanning electron microscopes(SEMs) and a new software package for automated analysis of gunshot residues(GSR).Den forbinder oppreist og invertert lys mikroskoper av typen STEREO Discovery,Axio Imager og Axio Observer med en motorisert scene med alle gjeldende ZEISS scanning elektronmikroskop så vel som med ZEISS Crossbeam arbeidsstasjoner(en kombi-nasjon av scanning elektronmikroskop og en fokusert ion stråle for material prosessering).
It connects upright and inverted light FEI Company(Nasdaq: FEIC), en ledende leverandør av atom-skala bildebehandling og analyse systemer,kunngjorde i dag salg av en Magellan™ ekstrem høy oppløsning scanning elektronmikroskop(XHR SEM) til Wageningen University, Nederland.
FEI Company(Nasdaq: FEIC), a leading provider of atomic-scale imaging andanalysis systems, today announced the sale of a Magellan™ extreme high-resolution scanning electron microscope(XHR SEM) to Wageningen University, The Netherlands.Analysen ble gjort med ORNL 300 kilovolt Z-kontrast scanning overføring elektronmikroskop, som kan oppnå aberrasjon-korrigert vedtak nær 0,6 Angstrom, inntil nylig en verdensrekord.
The analysis was done with ORNL's 300 kilovolt Z-contrast scanning transmission electron microscope, which can achieve aberration-corrected resolutions near 0.6 angstrom, until recently a world record.NanoGUNE har nå verdens mest avanserte kommersielt tilgjengelig mikroskop,Titan scanning overføring elektronmikroskop(S/ TEM), en Quanta FEG(felt utslipp pistol), og en Helios NanoLab DualBeam nanofabrication verktøy i sitt nye anlegg.
NanoGUNE now has the world's most advanced commercially-available 
