SURFACE ANALYSIS 日本語 意味 - 日本語訳 - 英語の例文

• 表面分析
• 表面解析
• surface analysis

英語 での Surface analysis の使用例とその 日本語 への翻訳

Laser Surface Analysis Device.
レーザー表面検査装置。

Foreign matter and surface analysis.
異物・表面分析］。

Surface analysis of aluminum(Al) pads of a semiconductor chip.
半導体チップのAlパッド表面分析。

Nanashino Co Central Research Center Surface Analysis.
例：七篠株式会社中央研究所表面分析。

Feasibility studies, surface analysis, design and engineering.
実現可能性の調査、土地の表面解析、設計およびエンジニアリング分析。

Such instruments are typically used for surface analysis.
このような機器は通常、表面分析に使用されます。

For this purpose, various surface analysis methods must be used.
このためには種々の表面解析手法の利用が必要である。

Providing advanced technologies and user-friendly instruments as a leading manufacturer of surface analysis instruments.
先端の技術と使いやすい装置を表面分析装置のトップメーカーとしてご提供する。

A compact GCIB instrument for surface analysis was developed jointly by ULVAC, Inc. and ULVAC-PHI, Inc.
表面分析用小型GCIB装置は、株式会社アルバックとアルバック・ファイ株式会社が共同で開発いたしました3-6。

It is essential for surface science and surface analysis research.
表面科学・表面分析研究の必需品です。

Treated surface analysis/control method Performance/Control AMALPHA: Resin-to-metal bonding technology from MEC.
処理表面の分析・管理方法性能・管理AMALPHA（アマルファ）:メックの樹脂金属接合技術。

We design and manufacture various types of customized systems as the world-leading supplier of surface analysis instrumentation.
表面分析装置のトップメーカーとして、各種カスタムシステムの設計・製造を行っています。

Surface analysis methods have contributed to recent advancements in science, technology and industrial development.
このようにして、近年の科学技術の進歩や産業の発展に、表面分析法は貢献してきたといえるでしょう。

For the high-tech industry, EAG is the leader in materials characterization, surface analysis, microscopy and electronics testing.
ハイテク産業では、EAGは材料の特性評価、表面分析、顕微鏡検査および電子機器試験のリーダーです。

Treated surface analysis/control method Performance/quality control AMALPHA: Resin-to-metal bonding technology from MEC.
処理表面の分析・管理方法性能・品質管理AMALPHA（アマルファ）:メックの樹脂金属接合技術。

For more powerful and flexible data analysis, SensoMAP, a state-of-the-art surface analysis software based on Mountains® technology is available.
さらにパワフルで柔軟なデータ分析を実現する、Mountains®のテクノロジーに基づいた最先端表面分析ソフトウェアSensoMAPも利用できます。

XPS surface analysis is the standard laboratory tool for measuring lubricant thickness and composition on hard disk media.
XPSによる表面分析はハードディスクメディアの潤滑剤の厚さと化学組成の分析においては、実験室的測定手法として確立されています。

Manufactures electron microscopes, equipment for surface analysis, evaporators, electron excitation sources, and electron energy analyzers.
電子顕微鏡、表面分析のための装置、蒸発器、電子励起源、電子エネルギー分析器を製造しています。

Surface analysis techniques are ideally suited to characterize the nanometer protective coatings and magnetic layers that make up today's magnetic media.
表面分析法はナノスケールの保護コーティングや磁気記録層なとの現代の磁気メディアの評価に理想的な手法です。

We also use a combination of techniques(such as non-destructive inspection, surface analysis, cross-section observation, outgassing analysis, and atmosphere measurement) to analyze causes of problems.
また、非破壊検査、表面分析、断面観察、脱ガス分析、雰囲気測定など融合化技術を駆使して、故障に至る原因を解析いたします。分析項目。

TOF-SIMS surface analysis can be used to probe hard disk surfaces to identify the lubricant composition, additives and contaminants that may be present.
TOF-SIMSによる表面分析をハードディスク表面に適用することで、潤滑剤の組成や添加物と存在するであろう不純物の同定に用いることができます。

We possess a range of analysis equipment that we use to quantitatively and qualitatively measure various organic compounds, as well as perform inorganic analysis and surface analysis for trace metals.
各種分析機器を保有しており、種々の有機化合物の定量・定性分析をはじめ、微量金属などの無機分析や表面分析なども可能です。

Both techniques can be important for surface analysis of materials and components across numerous research and production environments.
いずれの技法も、さまざまな研究や生産環境において材料やコンポーネントの表面分析に欠かせません。

Surface analysis equipment also plays a key role in the detection of contaminants and defects in the media as well as on the read/write heads and other components throughout the disk or tape drive.
表面分析は磁気メディアの評価に加えて、読み出し/書き込みヘッドを始めとする構成部品の汚染検出にも重要な役割を果たしています。

These coatings are often a stack of thin layers that can be characterized using PHI's surface analysis instruments to verify the composition of the layers, detect contaminants, and estimate layer thickness.
これらのコーティングはしばしば複数の層の積層により成り立っていますが、アルバック・ファイの表面分析装置により各層の組成分析、汚染検出、膜厚の評価が可能です。

Remote sensing and surface analysis with ArcGis 10. Remote sensing, satellite image analysis and surface and hydrological analysis methodologies with ArcGIS 10€ 59.99€ 14.99.
ArcGis10によるリモートセンシングと表面解析ArcGISの10でのリモートセンシング衛星画像解析と表面分析手法と水€59.99€14.99。

After the handover of Physical Electronics' manufacturing technologies in 2003, ULVAC-PHI became the leading manufacturer of surface analysis instruments and has continued introducing new products and technologies to meet customers' needs.
その後も、当社の独創的な商品開発力と確かな製造技術を注入して、顧客ニーズを先取りした新たな表面分析装置やオプションを市場に投入し続けています。

TOF-SIMS and AES surface analysis equipment can be used to detect and characterize micro-area contaminants or patterned features on magnetic media or read/write heads with sub-micron spatial resolution.
TOF-SIMSとAES表面分析装置は、磁気メディアや読み書きヘッドの微小領域の汚染や特徴的な形態を検出して分析することがサブミクロンの空間分解能で行うことができます。

Conventional textbooks for surface analysis include some descriptions of Static SIMS and TOF-SIMS. However there is currently no comprehensive manual for TOF-SIMS which has recently become essential for SIMS.
従来の表面分析の教科書は、スタティックSIMS、TOF-SIMSについて若干の紙面を割いて解説していましたが、いまやSIMSの中心となりつつあるTOF-SIMSについて、総合的な解説書といえるものはありませんでした。

Graphene- Technology for Surface Analysis& Surface Measurement| Bruker Mechanical testing of graphene presents a significant challenge due concerns regarding sample preparation as well as the extremely high force resolution needed to measure deformation in a single atomic monolayer.
グラフェン-TechnologyforSurfaceAnalysis&SurfaceMeasurement|Brukerグラフェンの機械的特性評価は試料調製や単一原子単層の変形を測定するのに極めて高い荷重の分解能にハードルがあります。