Eksempler på bruk av Scanning electron microscope på Engelsk og deres oversettelse til Norsk
{-}
-
Colloquial
-
Ecclesiastic
-
Ecclesiastic
-
Computer
The image corresponds to a scanning electron microscope.
Bildet tilsvarer et scanning elektronmikroskop.The scanning electron microscope has many applications in medicine, criminal investigation and material analysis.
Skanning elektronmikroskopet har mange bruksområder blant annet innen medisin, kriminaletterforskning og materialanalyse.The MTII/Fullam tensile stages are unique,compact test systems specifically designed to fit both optical and scanning electron microscopes.
Den MTII/ Fullam strekk stadier er unike,kompakte test systemer spesielt designet for å passe både optisk og scanning elektronmikroskop.Scanning electron microscope image of a gas sensor segment fabricated of a semiconducting nanowire of gallium nitride.
Scanning elektronmikroskop bilde av en gass-sensor segment fabrikkert av et halvledende nanowire av gallium nitride.The zeolites are characterized by X-ray diffraction,N2adsorption and Energy Dispersive X-ray Analysis using a scanning electron microscope.
Zeolittene er karakterisert ved røntgen-diffraksjon, N2 adsorpsjon ogEnergy Dispersive X-ray Analysis ved hjelp av et scanning elektronmikroskop.The 8500 is a compact system that offers researchers a field emission scanning electron microscope for low-voltage, high-performance imaging in their own laboratory.
I 8500 er en kompakt system som gir forskerne et felt utslipp scanning elektronmikroskop for lav spenning, høy ytelse imaging i sitt eget laboratorium.It has a sample loading time of less than 30 seconds, andits automated measurement capability generates statistically valid data in the time it takes to load a conventional scanning electron microscope(SEM).
Den har et utvalg lasting på mindre enn 30 sekunder, ogautomatisert måleevne genererer statistisk gyldige data i den tiden det tar å laste en konvensjonell scanning elektronmikroskop(SEM).The series is versatile andincorporates the company's HR scanning electron microscope(XHR SEM) with a focused ion beam(FIB), for enhanced imaging and milling capability.
Serien er allsidig ogomfatter selskapets HR scanning elektronmikroskop(XHR SEM) med en fokusert ion stråle(FIB), for forbedret bildebehandling og fresing evne.FEI Company(Nasdaq: FEIC), a leading provider of atomic-scale imaging andanalysis systems, today announced the sale of a Magellan™ extreme high-resolution scanning electron microscope(XHR SEM) to Wageningen University, The Netherlands.
FEI Company(Nasdaq: FEIC), en ledende leverandør av atom-skala bildebehandling og analyse systemer,kunngjorde i dag salg av en Magellan™ ekstrem høy oppløsning scanning elektronmikroskop(XHR SEM) til Wageningen University, Nederland.The Helios NanoLab DualBeam is a focused ion beam/scanning electron microscope(FIB/SEM) that will be used to explore new processes for the fabrication of functional nanostructures and nanodevices.
Den Helios NanoLab DualBeam er en fokusert ion stråle/ scanning elektronmikroskop(FIB/ SEM) som skal brukes til å utforske nye prosesser for fabrikasjon av funksjonelle nanostrukturer og nanodevices.The composition and microstructure of the materials were revealed by infrared spectrum analysis,X-ray diffraction, scanning electron microscope and transmission electron microscope. .
Sammensetningen og mikrostruktur materialet ble avslørt av infrarød spektrum analyse,røntgen Diffraksjon, scanning elektron mikroskop og transmission elektronmikroskop.For the majority of scanning electron microscopes, transmission electron microscopes and scanning-transmission electron microscopes used today, more than 98 percent of the available X-ray signal from the microscopes is neglected.
For flertallet av scanning elektronmikroskop, overføring What distinguishes these products are their compact size and flexible mounting fixtures,allowing them to be installed into virtually every type of scanning electron microscope(SEM), atomic force microscope(AFM) or light microscope(LM).
Hva skiller disse produktene er deres kompakte størrelse og fleksibel montering av inventar, slik atde kan installeres i nesten alle typer scanning elektronmikroskop(SEM), atomic force mikroskop(AFM) eller lysmikroskop(LM).Recently, a engineer from China conduct an experiment through observation of metallography, scanning electron microscope and microhardness testing, studied the influence of structure and hardness under different tempering temperature(300~ 780℃) and tempering cooling speed of T91 steel.
Nylig en ingeniør fra Kina gjennomføre et eksperiment gjennom observasjon av metallography, scanning elektron mikroskop og microhardness testing, studerte påvirkning av struktur og hardhet under annen tempering temperatur(300~ 780℃) og tempering avkjølingen fart av T91 stål.FEI Company(Nasdaq: FEIC), a leading scientific instrumentation company providing electron microscope systems for nanoscale applications across many industries, announced today the availability of its new Nova(TM)NanoSEM 50 Series of ultra-high resolution scanning electron microscopes(UHR SEMs).
FEI Company(Nasdaq: FEIC), en ledende vitenskapelig instrumentering gir FEI Company(Nasdaq: FEIC),a leading provider of high-resolution imaging and analysis systems, today announced the release of two dedicated scanning electron microscopes(SEMs) and a new software package for automated analysis of gunshot residues(GSR).
FEI Company(Nasdaq: FEIC),en ledende leverandør av atom-skala bildebehandling og analyse systemer, kunngjorde i dag salg av en Magellan™ ekstrem høy oppløsning scanning elektronmikroskop(XHR SEM) til Wageningen University.FEI Company(NASDAQ: FEIC), a leading instrumentation company providing electron microscope systems for applications across many industries, announces that it has entered into an agreement to collaborate with Nanonics Imaging Ltd., based in Israel, to explore the feasibility of adding an atomic force microscope(AFM)to an FEI DualBeam focused ion beam(FIB)/scanning electron microscope(SEM) system.
FEI Selskap(NASDAQ: FEIC), en ledende instrumentering selskap som tilbyr With a 60-year history of technological innovation and leadership,FEI has set the performance standard in transmission electron microscopes(TEM), scanning electron microscopes(SEM) and DualBeams(TM), which combine a SEM with a focused ion beam(FIB).
Med mer enn 60 år med teknologisk innovasjon og ledelse,har FEI setter ytelsen standard i overføring elektronmikroskop(TEM), scanning elektronmikroskop(SEM) og DualBeams™, som kombinerer en SEM med en fokusert ion stråle(FIB).Summary The scanning electron microscope is a versatile instrument that can be used for many purposes and can be equipped with various accessories An electron probe is scanned across the surface of the sample and detectors interpret the signal as a function of time A resolution of 1- 2 nm can be obtained when operated in a high resolution setup The introduction of ESEM and the field emission gun have simplified the imaging of challenging samples MENA3100.
Sammendrag Sveipelektronmikroskopet er et meget anvendelig instrument som kan utstyres med et stort utvalg av tilleggsutstyr En elektronstråle sveipes over prøveoverflaten og detektorene avleser signalet som funksjon av tid Det er mulig å oppnå en oppløsning på 1- 2 nm Bruk av ESEM og feltemisjonskanon har gjort det enklere å avbilde utfordrene prøver MENA3100.Any suitable chemical analysis technique can be used, butwe have used energy dispersive X-ray analysis(EDX) using a scanning electron microscope to ascertain the composition of the parent Ge-UTL zeolite and the final zeolites IPC-2 and -4(Table 1).
Hvilken som helst egnet kjemisk analyseteknikken kan anvendes, menvi har brukt energi dispersiv røntgenanalyse(EDX) ved hjelp av et scanning elektronmikroskop for å fastslå sammensetningen av moder Ge-UTL zeolitt og de endelige zeolitter IPC-2 og -4(tabell 1).It connects upright and inverted light microscopes of type SteREO Discovery, Axio Imager andAxio Observer featuring a motorized stage with all current ZEISS scanning electron microscopes as well as with the ZEISS CrossBeam workstations(a combi- nation of scanning electron microscope and a focused ion beam for material processing).
Den forbinder oppreist og invertert lys mikroskoper av typen STEREO Discovery,Axio Imager og Axio Observer med en motorisert scene med alle gjeldende ZEISS The analysis was done with ORNL's 300 kilovolt Z-contrast scanning transmission electron microscope, which can achieve aberration-corrected resolutions near 0.6 angstrom, until recently a world record.
Analysen ble gjort med ORNL 300 kilovolt Z-kontrast scanning overføring elektronmikroskop, som kan oppnå aberrasjon-korrigert vedtak nær 0,6 Angstrom, inntil nylig en verdensrekord.NanoGUNE now has the world's most advanced commercially-available microscope, the Titan scanning transmission electron microscope(S/TEM); a Quanta FEG(field emission gun); and a Helios NanoLab DualBeam nanofabrication tool in its new facility.
NanoGUNE har nå verdens mest avanserte kommersielt tilgjengelig mikroskop,Titan scanning overføring elektronmikroskop(S/ TEM), en Quanta FEG(felt utslipp pistol), og en Helios NanoLab DualBeam nanofabrication verktøy i sitt nye anlegg.It contains a general overview of electron and ion beam microscopes, including the history, technology, terminology and applications of transmission electron, scanning electron, scanning transmission electron, focused ion beam and DualBeam™ systems.
Den inneholder en generell oversikt over elektron-og ion stråle mikroskop, inkludert historie, teknologi, terminologi og anvendelser av transmisjon elektronmikroskopi, scanning elektronmikroskopi, scanning transmisjon elektron, fokusert ion stråle og DualBeam™ systemer.To see andstudy viruses, scanning and transmission electron microscopes(SEM and TEM, respectively) are required.
For å se ogstudere virus, er skanning og overføring elektronmikroskop(SEM og TEM, henholdsvis) nødvendig.This includes well-equipped laboratories,a suite of electron microscopes, a confocal scanning microscope and a protein and DNA analytical service and advanced super and parallel computing facilities.
Dette inkluderer velutstyrte laboratorier,en pakke med elektronmikroskop, en konfokal scanning mikroskop og et protein og DNA analytisk service og avansert super og parallell databehandling fasiliteter.The new building will house a new scanning probe microscope that measures spin-polarized electrons on surfaces.
Det nye bygget skal romme en ny scanning probe mikroskop som måler spin-polariserte elektroner på overflater.ChemiSTEM Technology achieves a factor of 50 ormore enhancement in speed of EDX elemental mapping on scanning/transmission electron microscopes(S/TEMs) compared to conventional technology employing standard EDX Silicon-drift detectors(SDDs) and standard Schottky-FEG electron sources.
ChemiSTEM Technology oppnår en faktor på 50 ellermer forbedring i hastighet EDX elementært kartlegging på scanning/ girkasse elektronmikroskop(S/ TEMS) i forhold til konvensjonell teknologi ansette standard EDX Silicon-drift detektorer(SDDS) og standard Schottky-FEG elektron kilder.
