Examples of using Test probe in English and their translations into Korean
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Colloquial
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Ecclesiastic
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Ecclesiastic
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Programming
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Computer
Test Probe Tips.
테스트 프로브 팁.Single- Pair Test Probe.
This test probe is made of a tin-coated polycarbonate for added durability.
이 시험 조사는 추가한 내구성을 위한 주석 입히는 폴리탄산염의 합니다.RF Satellite Test Probe.
RF 인공위성 테스트 프로브.Digital Multimeter Test Probes Double Layer Silicone 75 Cores Tinned Copper.
TL910 Electronic Test Probes.
TL910 전자 테스트 프로브.Jointed test probe for equipment likely to be accessible to children IEC 62368 -1-Figure V.1.
아이들에 접근 가능할 장비를 위한 합동된 시험 조사 아마 IEC 62368 1 숫자 V.1.Electrical Multimeter Test Probes Gold Plate Wire Pen Cable Red+ Black.
전기 멀티미터 시험은 금속판 철사 펜 케이블 빨강 + 검정을 시험합니다.PCB Circuit Board Electrical Test Probe Pin.
Pcb회로기판 전기 검사용 테스트 프로브 핀.C222014B Single-Pair Test Probe features 4 wires that are each terminated by a banana plug.
SMT grabbers, alligator clips and fine-tip test probes.
SMT 그래버, 앨리게이터 클립 및 미세 팁 테스트 프로브.There is single pair test probe YH-2827 for test. .
시험을 위해 쌍이 시험합니다 조사 YH-2827를 있습니다.Universal Digital Multimeter Test Probes 1000V/ 20A Double Layer Silicone.
보편적인 디지털 멀티미터 시험은 1000V/20A 겹켜 실리콘을 시험합니다.IEC62368-1 IT Test Equipment,Straight Unjointed Version Respective Test Probe.
IEC62368-1 IT Double Layer SiliconeMultimeter Test Probes 1000V/ 20A CAT. III 1000V Certification.
겹켜 SiliconeMultimeter 시험은 1000V/20A CAT. III 1000V 증명서를 시험합니다.This test probe offers test access to pairs of the splitter block, and is used on wire wrap terminals.
이 시험 조사는 쪼개는 도구 구획의 쌍에 N Force Jointed Test Finger,IEC60529 Test Probe B Easy Operation.
의 N 힘은 BTL20 Interactive Test Probe set, with long and short probe extenders and built-in LCD display and speaker for visual and audio feedback.
BTL20 지능형 테스트 프로브세트: 길고 짧은 IP Enclosure Electrical Appliance Tester IEC61032 Test Probe B With Force 10N 20N 30N.
힘 10N 20N 30N를 가진 IP 울안 전기 제품 검사자 IEC61032 시험 조사 B.With the ETK(emulator test probe), the powerful ECU interface from ETAS, several hundred signals can be acquired simultaneously from various ECUs throughout the vehicle.
ETAS의 강력한 ECU 인터페이스 ETK(에뮬레이터 테스트 프로브)를 채택할 경우, 차량 곳곳에 분포되어 있는 다양한 ECU를 통해 수백 개에 달하는 신호를 동시 다발적으로 수집할 수 있다.STG2000 Connection Module BRCP-SP Block C222014B Single Pair Test Probe With Banana Plugs.
STG2000 연결 단위 BRCP-SP 구획 C222014B는 바나나 마개를 가진 쌍 시험 조사를 골라냅니다.This test lead set with test probes works in multiple electrical applications.
Covers a broad range of battery test functions ranging from DC voltage and resistance tests to full condition testing using automated string function testing and the test probe integrated infra-red temperature measurement system.
Logic Analyzer& Oscilloscope's Mini Test Probe Compatible with Most Circuit Tester Professional Supplier.
로직 분석기 & amp; 오실로스코프의 Mini Test Probe는 대부분의 회로 테스터와 호환 가능합니다. Professional Supplier.To begin each test with a Fluke Motor Drive Analyzer simply connect the test probes according to the diagram, then press Next.
Fluke 모터 드라이브 분석기로 각 테스트를 시작하려면 다이어그램에 따라 테스트 프로브를 연결한 후 Next(다음)만 누르면 됩니다.C222014B Single-Pair Test Probe with banana plugs helps to connect handheld line testers with the high-density, cross-connect STG2000 Series and integrated splitter block BRCP-SP.
고밀도, 교차 접속 STG2000 시리즈 및 통합 쪼개는 도구 구획 BRCP-SP도 소형 선 검사자를 연결하는 바나나 마개 도움을 가진 C222014B 단 하나 쌍 시험 조사.INGUN headquarters in Germany wasfounded in 1971 and here Test Fixtures and Test Probes are designed and manufactured for the global market.
INGUN 본사는 1971년에 설립되었으며,글로벌 시장을 위한 Nordson DAGE has developed a unique patented technique for attaching a test probe to solder bumps or solder paste in order to perform a hot bump pull test in full accordance with the recently published IPC-9708 test standards for the detection of pad cratering for surface mount and printed circuit board assemblies.
