What is the translation of " ATOMIC FORCE MICROSCOPE " in Swedish?

• atom- styrkamikroskop
• atomkraftsmikroskop

Examples of using Atomic force microscope in English and their translations into Swedish

This requires an atomic force microscope.
Detta kräver ett atomkraftsmikroskop.

An atomic force microscope(AFM) setup is shown in Figure 1.
Ett atom- styrkamikroskop(AFM) ställer in visas in Figurerar 1.

July 10th 2008- NASA's Phoenix Mars Lander has finally used the onboard atomic force microscope from Nanosurf.
Juli 10th 2008- NASAS Phoenix Fördärvar Landeren har slutligen använt det onboard atom- styrkamikroskopet från Nanosurf.

This is an atomic force microscope image.
Detta är ett atom- styrkamikroskop avbildar.

The BRR microscope from DME is a unification of a scanning electron microscope with an atomic force microscope.
BRR-mikroskopet från DME är en sammanslagning av ett scanningelektronmikroskop med ett atom- styrkamikroskop.

The atomic force microscope(AFM) has become one of the standard tools of nanotechnology.
Den atomkraftsmikroskop(AFM) har blivit en av de standardverktyg av nanoteknik.

The researchers made their discovery by taking single-molecule force measurements with an atomic force microscope.
Forskarna gjorde deras upptäckt, genom att ta singel-molekylen för att tvinga mätningar med ett atom- styrkamikroskop.

Atomic force microscope(AFM): measures the electrostatic force between the tip and the specimen.
Atom- styrkamikroskop(AFM): mäter den elektrostatiska styrkan mellan spetsen och prov.

This tiny tip can be used for an Atomic Force Microscope, or, in this case, for forming a micro pyramid.
Denna mycket små spets kan användas för ett Atom- StyrkaMikroskop eller, i detta fall, för att bilda en mikropyramid.

a researcher may start with a basic system such as an atomic force microscope.
en forskare kan starta med ett grundläggande system liksom ett atom- styrkamikroskop.

The atomic force microscope is combined with a high resolution objective in top-illumination geometry.
Det atom- styrkamikroskopet kombineras med ett kickupplösningsmål i bästa-belysning geometri.

(NYSE: A) today introduced the first commercially available capacitance calibration standard for an atomic force microscope(AFM).
(NYSE: A) introducerade i dag den första kommersiellt- tillgängliga kapacitenskalibreringen som var standard för ett atom- styrkamikroskop(AFM).

The atomic force microscope works by measuring the electrostatic force between the tip and the specimen.
Det atom- styrkamikroskopet fungerar, genom att mäta den elektrostatiska styrkan mellan spetsen och prov.

March 3- The first paper is published describing the atomic force microscope invented the previous year by Gerd Binnig,
Mars- För första gången beskriver en tidning atomkraftsmikroskopet, uppfunnet föregående dag av Gerd Binnig, Calvin Quate

The Atomic Force Microscope(AFM), has been the instrument of choice for three dimensional measurements at the nanometer scale.
Det Atom- StyrkaMikroskopet(AFM), har varit instrumentera av primat för tredimensionella mätningar på nanometerfjäll.

(NYSE: A) today announced the availability of a next-generation atomic force microscope(AFM) that can excel in both the laboratory
(NYSE: A) meddelade i dag tillgängligheten av ett atom- styrkamikroskop för nästa generation(AFM) som kan överträffa i

The Atomic Force Microscope(AFM) is the vital instrument for the whole field of nanoscience and nanotechnology.
Det Atom- StyrkaMikroskopet(AFM) är det livsviktigt instrumenterar för helheten sätter in av nanoscience och nanotechnology.

the combination of an atomic force microscope(AFM) and IR spectroscopy.
kombinationen av ett atom- styrkamikroskop(AFM) och IR-spektroskopin.

Background Since its invention, the atomic force microscope(AFM) has been used to image a wide range of different samples.
Efter dess uppfinning har detatom- styrkamikroskopet(AFM) varit van vid avbildar en lång räcka av olikt tar prov.

of Mars' ubiquitous dust, using its atomic force microscope.
av Mars dammar av, genom att använda dess atom- styrkamikroskop.

This is a perspective atomic force microscope(AFM) view of graphitized trenches that are 18 nanometers deep.
Detta är ett perspektiv som det atom- styrkamikroskopet(AFM) beskådar av graphitized diken, som är 18 nanometers djupt.

The spatial resolution breakthrough is obtained by an innovative technique that uses a nanoscale probe from an atomic force microscope(AFM) that acts as the IR absorbance detector.
Det rumsliga upplösningsgenombrottet erhålls av en innovativ teknik som använder en nanoscalesond från ett atom- styrkamikroskop,(AFM) som agerar som IR-absorbanceavkännaren.

The renovated facilities include an atomic force microscope, which can visualize structures as small as one nanometer in diameter.
De renoverade lättheterna inkluderar ett atom- styrkamikroskop, som kan visualisera strukturerar så litet som en nanometer i diameter.

The early research involving manipulation and nano-mechanical testing of individual nanostructures was demonstrated by use of atomic force microscope(AFM) and scanning tunneling microscope(STM) based systems[1-4].
Tidig sortforskningen som gäller behandlig och nano-mekaniskt testa av individnanostructures, visades, genom bruk av det atom- styrkamikroskopet(AFM) och att avläsa gräva baserade(STM) system för mikroskopet[1-4].

More recently, the atomic force microscope has opened a new path for the investigation
För en tid sedan, har detatom- styrkamikroskopet öppnat en ny bana för utredningen,

Bruker has introduced the Dimension Edge PSS atomic force microscope(AFM) for patterned sapphire substrate(PSS)
har Bruker infört dimensionen Edge PSS atomkraftsmikroskop(AFM) för mönstrade safir substrat(PSS)

Check it out. I used the atomic force microscope in the material science lab
Kolla här… jag använde atomkraftsmikroskopet i materialvetenskapslabbet och skrev våra initialer på ett hjärta,

calibrated electrical measurement capabilities of a microwave vector network analyzer with the nanoscale spatial resolution of an atomic force microscope.
kalibrerade elektriska mätningskapaciteter av en mikrovågvektor knyter kontakt analysatorn med den rumsliga upplösningen för nanoscale av ett atom- styrkamikroskop.

NIST software simulates the tip of an atomic force microscope moving left across a stack of four sheets of graphene.
NIST-programvara simulerar spetsen av en atom- styrkamikroskopflyttning som lämnas över en bunt av fyra, täcker av graphene.

Atomic force microscope(AFM) image of ultra-high surface density quantum dots formed by reducing the amount of gallium irradiation to 3 monolayer at a growth temperature of 30°C.
Det Atom- styrkamikroskopet(AFM) avbildar av ultra-kick ytbehandlar täthetquantum pricker bildat av förminskande beloppet av galliumirradiation till monolayer 3 på en tillväxttemperatur av 30°C.