欠陥検査 英語 意味 - 英語訳 - 日本語の例文

• defect inspection

日本語 での 欠陥検査 の使用例とその 英語 への翻訳

ブランクス・フォトマスク欠陥検査装置。
Photomask Defect Inspection System.

マクロ欠陥検査装置。
Defect inspection apparatus.

欠陥検査装置。
Defect Inspection System.

基板欠陥検査。
Board defect inspection.

ウェハー結晶欠陥検査。
Wafer Crystallographic Defect Inspection.

半導体結晶微小欠陥検査装置。
Semiconductor crystal micro defect inspection apparatus.

鋳造および鍛造欠陥検査。
Composite delamination and defect inspections.

タッチパネル周辺電極欠陥検査。
To inspect defection on touch panel electrode.

CFRP・複合材欠陥検査。
CFRP and composite material flaw inspection.

FPDフォトマスクの欠陥検査装置。
Systems to inspect defects on FPD photomasks.

高精度な「歩留解析」「欠陥検査」が実現した、かつてない生産革新AIが支える世界最先端の半導体製造プロセス。
Unprecedented production innovation producing high accuracy yield analysis and defect inspection The world-pioneering semiconductor manufacturing processes being supported by AI.

SpectralCam™付き検査システムは、31チャンネルスペクトルセンサーを用いて、100%欠陥検査と真のスペクトルカラー測定を提供します。
The Inspection System with SpectralCam™ provides 100% defect inspection and true spectral color measurement using a 31-channel spectral sensor.

プラスチックフィルムとゴム産業のための厚さ、重量および水分測定、欠陥検査、プロセスの自動化と制御システムを測ります。
Gauging thickness weight and moisture measuring, defects inspection, process automation and control systems for the plastic films and rubber industries.

BD-ROM/R/REの欠陥検査ハンドラ装置"DHA-ERCBR3"を開発。
Developed defect check handler system for BD-ROM/R/RE"DHA-ERC3".

レーザーテックは、設計ルール90nmの半導体デバイスに対応した高感度インライン用欠陥検査装置の新製品"マスクブランクス欠陥検査装置「M3320」"を製品化し、3月17日から受注を開始しました。
Lasertec has commercialized a new maskblanks defect inspection system"M3320" for high sensitivity in-line defect inspection compatible with semiconductor devices of 90nm, and has started to accept order for this new product on March 17th.

半導体ウェーハ欠陥検査装置は、ウェーハ上のパーティクルと呼ばれる異物やパターン欠陥を検出し、欠陥の位置座標（X、Y）を取得します。
Semiconductor wafer defect inspection system detects physical defects(foreign substances called particles) and pattern defects on wafers and obtains the position coordinates(X, Y) of the defects..

SpectralCam™付き検査システムは、QuadTechの商用カラーコントロールで用いられている、実績ある31チャンネルスペクトルセンサーを用いて、100%欠陥検査と真のスペクトルカラー測定を提供します。
Inspection System with SpectralCam™ provides 100% defect inspection and true spectral color measurement using the same proven 31-channel spectral sensor found on QuadTech's commercial color control.

歩留解析」や「欠陥検査」以外にも、四日市工場では、製品品質の予測や、装置メンテナンス時期の自動決定など、高度な知見が必要だった領域に、AIによるサポートをふんだんに取り入れています。
In addition to yield analysis and defect inspection, the Yokkaichi Operations also use AI support in many areas requiring high level expertise, such as product quality prediction, automatic determination of equipment maintenance timing, and the like.

同光学系は、同じく透明体である、フォトマスク用サブストレートの欠陥検査装置や、SiCウェハの欠陥検査装置に適用され、その優れた欠陥検出能力は市場から高い評価を得ています。
This optical system has been applied to the defect inspection system for photomask substrate and to the defect inspection system for SiC wafers, these two objects for inspection being both transparent as well, and excellent inspection capability of these two systems is highly acclaimed in the market.

UVision5は、業界標準となっているアプライドマテリアルズの欠陥レビュー装置SEMVision®G5とハンズフリーでシームレス統合ができ、業界をリードする完全一体型の欠陥検査・レビューソリューションを形成して、データの迅速かつ正確な情報化を実現します。
Seamless,"hands-free" integration with Applied's industry-standard SEMVision® G5 defect review system creates the industry's leading fully-integrated defect inspection and review solution, offering chipmakers the fastest, most accurate path from data to information.

特長コンフォーカル光学系による高コントラスト画像を用いた欠陥検査独自のアルゴリズムによる凹凸判定を含めた自動欠陥分類欠陥種の特定・推測が容易となる、高解像度3D測定機能用途インラインQCによるウェハ外周部の定量管理及び異常プロセス発生時の早期アラームSPCによるウェハ外周部の不良チップ発生時の後追い解析ウェハ外周部の欠陥による、歩留まり悪化原因の把握・解析製品詳細。
Key Features Defect inspection using high contrast images from confocal optics Automatic defect classification including pit/bump analysis by proprietary algorithm High-resolution 3D measurement that facilitates defect type identification and estimation Applications Quantitative management of wafer edges for in-line QC and early warning of process errors Follow-on analysis of chip defects at wafer edges using SPC Root cause analysis of yield loss at wafer edges Product detail.

マスク欠陥検査装置。
Mask Inspection System.

表面欠陥検査システム。
Surface Inspection System.

欠陥検査をしたい。
We want to check the defect.

様々な欠陥検査に対応。
Various defect inspections supported.

FPD欠陥検査装置Capricorn。
FPD Inspection Equipment"Capricorn".

フィルム表面欠陥検査・測定装置EasyInspect。
EasyInspect for Difficult Defect Inspection and EasyMeasure for Film Thickness Measurement.

円筒内面欠陥検査装置TPIシリーズ。
Cylindrical bore internal surface inspection system TPI Series.

我々は、過去の欠陥検査が。
We has past flaw testing.

シート状フィルム、金属薄膜の欠陥検査。
Defect detection for a film sheet and a metallic thin film.